TELKOM NIKA Indonesia n  Journal of  Electrical En gineering   Vol. 12, No. 11, Novembe r   2014, pp. 76 9 7  ~ 770 4   DOI: 10.115 9 1 /telkomni ka. v 12i11.63 44          7697     Re cei v ed Ma y 30, 201 4; Revi sed Septe m ber  6, 2014 ; Accepte d  Septem ber 30,  2014   Robustness Estimation of Wireless MEMS Vibration  Test under Harsh Environment       Chan gjian Deng   Schoo l of Auto mation En gi ne erin g, Univers i ty of  el ectronic  scienc e an d techno log y   of Ch ina,    No.20 06, Xi yu an Ave, W e st Hi-T e ch Z one, 611 73 1   Dep a rtment of Contro l Engi ne erin g, Chen gd u Univ ersit y   of Information T e chno log y   Che ngd u cit y   Xuefu roa d  bl oc k 1 No24, 6 102 25    E-mail: che ngl i _dcj@ 16 3.com       A b st r a ct   Rob u stness  es timati on  is i m p o rtant issu e to  ensur stab ility ,  relia bil i ty, an d  precis ion  of  Wireless   MEMS vibrati o n test u n d e r h a r sh e n viro n m e n t stressin g Al thoug h th e ro b u stness  of vibr ation  test is  li mited   ma inly  by the   embe dde d e l e c tronics a nd s ensors, h o w   to obtai n pr ecise  and r o b u st da ta by usi ng  en erg y   effective a nd r e sourc e s co nstrain ed w i re less  sensor  n odes  is  still a prob le m.  Pa per  uses   the mu ltivari a t e   uncerta inty statistics method t o  esti mate ro b u stness  of o n li ne test data  un der h a rsh e n vir o n m e n t, and u s e s   F i sher infor m ation d i stanc e to estimate trans mittin g   rob u stn e ss in its co mp licatio n co mmu n icati on pr oces s .   Experi m ents a nd si mulati on  a r e des ign ed to  ana ly z e  th e ro bustness  an precis e of w i rel e ss MEMS no de s   in nu merica l va lue, resu lts sho w  estimatio n  methods a nd  mo del ar e effective.        Ke y w ords :   robustness, mult ivariat e   uncert a inty statistics, Cramer-Ra o  l o w e r boun d, F i sher infor m ati o n   distanc e      Copy right  ©  2014 In stitu t e o f  Ad van ced  En g i n eerin g and  Scien ce. All  rig h t s reser ve d .       1. Introduc tion  Measuri ng vibration i s  very esse ntial in   detecting  an d diagn osi n g  any deviatio n  from  norm a l con d i t ions. The a d vantage of MEMS acce l e rom e ters from conve n tional pie z oel e c tri c   accele rom e te rs a r e their  si ze, ea sy insta llation, co st and so o n In life cycle  analysi s , there a r e som e  qua litative  experime n ts result s for  MEMS  accele rom e te rs in n o rm al and ha rsh work  situat io n. Ron Denton  repo rted reli ability result s on  MEMS accel e rom e ters fro m  field failu re expe rien ce,  the MTBF  b e ing a r o und   2,000,00 0 ho urs  (aroun d 5*10 -7h - 1 for a n   expone ntial d i stributio n of  failure s) [1]. Andover  rep o rt ed a failure rate   of 1.75  ppm  for MEMS  a c cele rom e ters manufa c tu re d by MEMSI C  [2].The se  result sho w  t hat  MEMS accel e rom e ters are high reliability devices ,  with low fai l ure rate. There have been   several studi es [3-6] ad dressing this i s sue for  irra diation. COT S  accel e ro m e ters h a ve b een  sho w n to su rvive 1000 temperature  cycle s  from - 6 5 ° C to +1 50° C, as well as 3 0 ,000 me cha n ical   sho c ks of 2,0 00G. But there are not en o ugh test an d analysi s  of its robu stne ss.     Meanwhile, t he MEMS  se nso r s hol d a  gre a t promi s e for th e u s i ng of  wirel e ss  sma r vibration me asu r em ent b a se d co nditio n  monitorin g  [7-14]. The robu stne ss o f  the calibrati on   pro c ed ure un der h a rsh en vironme n t is  cru c ial fo r the  potential pra c tical u s of multi-sen s or  and  singl e se nsor device s .  MEMS accele ro meters  appli e d in the pap e r  are  ca paciti v e base d  MEMS  accele rom e te rs, it mea s ure cha nge s o f  the  capa citance betwee n  a pro o f mass and a fi xed  con d u c tive electro de sepa rated by a narrow g ap [15].   As the MEM S  sen s o r s of  embed ded  el ectro n ics  hav e two  com p e n satio n  me an s un de r   harsh  environ ment. On e i s  environme n t co mpe n satio n   (system   e r ror);   the other is noise si gn al  filter which is stre ssed b y  harsh e n vironm ent  (ra n dom error a nd uncertai n ty). The pape r is  focu sed  on  th e second  pro b lem. Robu st  statisti c i s   sh own  to b e  u s eful to d eal  with the u n cert ain   data in  no rm al envi r onm e n t [16-20]. Ba sed  on  thi s pape su ppo ses th at the  collect  data  un der  harsh  enviro n ment  contai n "inform a tio n ” of te st  da ta. And the f i she r  info rma t ion matrix a nd  Cra m er-Rao  lowe r bou nd are ap plied to analyze  ro bustn ess and  preci s e of vibration  sen s or  [21].   This pap er a ddre s se s the  problem  of  robu st ne ss e s timation of  wi rele ss MEMS  se nsor  work ing under hars h   envir onment. In sec t ion II, The formulation  of problem is introduc e d. In  Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                               ISSN: 23 02-4 046                     TELKOM NI KA  Vol. 12, No. 11, Novem ber 20 14:  76 97 – 770 4   7698 section III, th e simulation method, experiment  result s and discussi on will be present. In section  IV, the conclu sion i s  given.       2. Problem Formulation   There a r e two main  pro b l e ms i n  robu stness  an alysi s  of  wirel e ss  sen s o r s un de r ha rsh  environ ment  (as  sh own in  Figure 1). O ne is mi ssing  data processing i n  co mm unication lay e r;  the other is  ro bust un ce rtai nty analysis u nder h a rsh e n vironm ent in  physic laye r.        Figure 1. Two  Layers of  Wi rele ss Vib r ati on Sensor  Ro bustn ess Ana l ysis      2.1. Robus t Estimation P r oblem of Vibration Te st  under Harsh  En v i ronment  The vibratio n sign al model  unde r ha rsh env iron ment i s  sh own as fo rmula (1):     ,...) , , ( ' ,...) , , ( ) ( 1 H T t f H T t f t (1)     f(t,T,H,…) is c e rtain tes t  s i gnal, f’ (t, T H,…) is  uncertain  si g nal  come  fro m  ha rsh   environ ment. Here  Γ 1 ( t) m ean s only test vibration value,  have  not  tested temp erature, humi d ity,  and othe r env ironm ent influ ence paramet ers.   In the test scenari o , we te st vibration, t e mpe r ature, humidity and  so o n  sim u lta neou sly,  obtain  Γ 2(t,T,H,…) from formula (2).     ,...) , , ( ' ,...) , , ( ,...) , , ( 2 H T t f H T t f H T t (2)     To sim p lify the p r oble m , here  Supp ose  Γ 2(t,T,H,… ) ha s a n  em pirical di strib u tion, the   qualitative ro bustn ess i s  e s sentially eq uivalent to weak  co ntinuit y  of  Γ . As de scribe  in formula   ( 3 )- (5) .   Many of the  most co mmo n test statistics and e s timators d epe nd o n  the sample  (x 1. . .  n,) only throu gh the empi ri cal di stributio n function.     i x n n 1   (3)   Whe r i x stand s for the point mass 1 at x.  That is,     ) ( ) ,..., ( 1 n n n F x x   (4)     If the limit in  probability exists:     ) ( lim ) ( n n F F   (5)     Then  Γ  is  Fisher cons is tent, or  (asympto tic robu stne ss). Let:      ,...) , , ( , 2 H T t y i i   (6)   Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
TELKOM NIKA   ISSN:  2302-4 046     Robus t ness   Es timation of  Wireless  ME MS Vi bration  Test un der  Harsh… (Ch a n g jian Deng 7699 Then Cram er-Ra o  ineq uali t y is:    ) , ( ln ) ( ] ) ) ( ˆ [( ; 1 2 2 2 2 i i i i i i i i i i x a y y p a p dy a I I a y a dy e and I e (7)     Whe r e I is Fisher info rmatio n [21], ‘p’ is distributio n of ‘a’.  For  Γ (t, T, H,…) h a n a tive comp o nent of  un ce rtainty f’ (t, T, H,…), the  robu st  estimation  p r oblem  of vibration te st u n der ha rs h e n v ironme n t is  multivariate  u n ce rtainty ro bust  statistics p r ob lem.     2.2. Robust  Estimation P r oblem of Wi reless  Data Transmitting  under Ha rs h En v i ronment  In netwo rk t r ansmitting, t here  are pa cket  lo sing  ra te owin g to  attacks, envi r onment  influen ce, en d of battery powe r  and  so  on.  In the pape r,  wirel e ss sen s ors lo sin g  p a cket sto c h a stic p r o c e ssi ng is  sup p o s ed to be   Poisson p r o c essing.    The pa per f o cu se s on t w o robu st e s timation p r o b lems. O ne  is ro bu st est i mations   occurre d  in  u n ce rtainty diff erent  depl oyment pla c e,  the oth e r is robu st p r e c ise  estim a tion of  10% uncertai n ty conne ctivity (or pac ket l o sin g  rate ) in one no de.     In the first situation, Fi sher info rmati on  dista n ce  D is d e fined  to present  different  deployme nt status. As sh o w n in form ula  (8).      2 1 ) ]( [ ) ( min )) | ( ), | ( ( 2 1 t t ij T F dt dt d g dt d x p x p D i   (8)     Suppo se d a ta tran smitting  prob ability of node in different d eploy ment pla c e is similar,   the Kullback  Leible r  diverg ence is half o f  Fisher info rmation dista n c e.     ) , ( ) , ( ) , ( 1 2 2 1 2 1 p p D p p D p p D KL KL F   (9)     In the seco nd situation,  the location  of  missing  data is defined to describe the   relation shi p  b e twee n pre c i s e (o r CRLB ) with missing  data. Then:     c b CRLB n n  ) ( lim   (10 )     b is location o f  missing d a ta, n is numbe r of transmitting data, c is  con s t.      3. Method s a nd Simulation Analy s is    To  solve  problems in section II, two  hypot heses are introduced fi rstly, and t hen the  robu st u n cert ainty analy s is of vibration t e st i s   p r o p o s ed a nd  simul a ted, in th e e nd, ba se d o n   the  noisy un cert ain sign al  m odel, robu st   estim a tion probl em of wirel e ss  dat tra n smittin g   is  analyzed an d  simulated.      H y potheses  1:  the Packets lo sin g  during o ne pe riod un der u n ce rtain inte rface is th e   Poisson  stochasti c process; and th e Pa ckets lo sin g  i n  different d e p loyment is  a l so the Poi sson   stocha stic proce s s.   H y potheses 2:  Harsh d e g r ee, or  different enviro n m ent informati on co ntain n a tive test  error inform ation in  Fi sher informati on in equ ality. For exam ple, the  sa me MEMS  chip,  Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                               ISSN: 23 02-4 046                     TELKOM NI KA  Vol. 12, No. 11, Novem ber 20 14:  76 97 – 770 4   7700 uncertainty a nd deviation  of COS ap pli c ation  have  sm aller val ue t han it of ind u s trial a ppli c ati o n ;   uncertainty a nd deviatio n  of indu stri al  appli c at ion   have  smalle r value tha n   it of automot ive   electroni cs; and un certai nty  of  auto m otive appli c ation  ha sma ller value  than it  of  harsh   appli c ation s .      3.1. The Vibration Tes t  Design and Robustnes s Analy s is unde r Harsh Env i ronment  The first test  is to verify t he vibratio sign al mod e l. He re  we te st vibration in  different  temperature,   humidity, and  in diffe rent  p l ace.  T a b l e 1 is  temp er a t ur e  tes t  da ta F i g u r e  2 sh ow n   test in hydroe lectri c station.   Table 1 p r e s ents test valu e of two MEMS vibr ation  sen s o r s in n o r mal (2 0 º) a nd col d  (- 10º) temp erature.    The first test  is to verify t he vibratio sign al mod e l. He re  we te st vibration in  different  temperature,  humidity, and  in different p l ace. Ta ble 1  is temperatu r e test data, fig.2 sho w n te st  in hydroel ect r ic station.   Table 1 p r e s ents test valu e of two MEMS vibr ation  sen s o r s in n o r mal (2 0 º) a nd col d  (- 10º) temp erature.    So it is reaso nable to u s follow un ce rtain sig nal mo del und er ha rsh environm e n t like   (3).     Table 1. Te st Value of Two  MEMS Vibration  Sensors in  Norm al (20 º )  and cold (-1 0 º)  T e mp er a t ur   x y  note s   Normal tempe r at ure-  node No1   0.00g  0.06g   0.88g    Rate 1/20   Rate 1/4   Rate 1/4   Var y  da ta/all dat Change 0.0 1 g   Change 0.0 1 g   Change 0.0 1 g   Max-min value   Normal tempe r at ure-  node No2   0.05g  0.02g   0.92    Rate 1/1.5   Rate 1/1.5   Rate 1/1.5   Var y  da ta/all dat Change 0.0 5 g   Change 0.0 2 g   Change 0.0 8 g   Max-min value   Cold temperat ur e-  node No1   0.01g  0.13g   0.92g    Rate 1/20   Rate 1/4   Rate 1/4   Var y  da ta/all dat Change 0.0 1 g   Change 0.0 1 g   Change 0.0 2 g   Max-min value   Cold temperat ur e-  node No2   0.12g  0.16g   0.95    Rate 1/1.5   Rate 1/1.5   Rate 1/1.5   Var y  da ta/all dat Var y  0. 1g   Var y  0. 08g   0.08g   Max-min value           Figure 2. Wireless vibratio n MEMS sen s ors in field s     Δμ ; μ μ ) σ k μ x Φ ( ε ) σ μ x Φ ( ε ) (1 F(x) i i i   (11 )      As the cha n ce (or variety)  measure is s ub additive. That is, for any countabl e se quen ce   of events ,... , 2 1 , the n  have:    1 1 } { } { i i i i ch ch   (12 )   Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
TELKOM NIKA   ISSN:  2302-4 046     Robus t ness   Es timation of  Wireless  ME MS Vi bration  Test un der  Harsh… (Ch a n g jian Deng 7701 Metho d  1:  m u ltivariate un certai nty rob u s t statisti cs p r oble m  in  wo rst ca se  analy s is, the  every environ ment influe nce facto r  othe r than te mp erature, robu st  estimation  ca n use formul a   (12 ) , and m e anwhile the  resolvin g ca p ability of robu st statisti cs i s  inversely pro portion al to the  harsh de gree The  simul a tio n  of m e thod   1 is u s e  (1 3)  as  no rmal  ro bust  statisti cs, use  (11 )  a s   in robu st  harsh stati s tics. as sho w n i n  Figure 2     ) ( ) ( ) 1 ( ) ( k x x x F   (13 )         (a) An exam p l e resolving capability of ro bust  statistics in n o rmal e n viron m ent    (b) An exam p l e resolving capability of ro bust  statistics in h a rsh environ ment    Figure 3. (a)   An example resolvin g ca pa bility of  robust statistics in  norm a l enviro n ment; (b ) An  example reso lving cap ability of robus t st atistics in harsh environm e n   The CRLB of (13 )  had b e e n  proved to b e  (14 )   G CRLG CRLBc ) 2 1 (   (14 )     Theo ry 1: the CRLB c ’ of unce r tain si gn al  model und er harsh e n vironm ent  have value  as sho w n in (15).     ) ' .... ' ( 2 2 1 ' n c c CRLB CRLB   (15 )     Prove: sup p o s ˆ  is an esti mation value  of , the mean squ a re e r ror  of  ˆ  is  ) ˆ ( 2 M  .    2 2 ) ˆ ( ) ˆ ( E M   (16 )   ) ( ) ˆ var( ]} ) ˆ ( [ )] ˆ ( ˆ {[ 2 ] ) ˆ ( [ )] ˆ ( ˆ [ ] ) ˆ ( ) ˆ ( ˆ [ ) ˆ ( 2 2 2 2 2 b E E E E E E E E E E M (17 )     The form ula (17) is true onl ˆ  is asym ptotic unbi ased e s timation.   ) ˆ var( sat i sf y :   10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 0 50 100 150 200 250 300 350 400 No .  o f  t e s t 1/ r e s o lution 10 20 30 40 50 60 70 80 90 10 0 0 20 40 60 80 10 0 12 0 14 0 16 0 18 0 20 0 No .  o f  t e st 1/ re s o l u t i o n Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                               ISSN: 23 02-4 046                     TELKOM NI KA  Vol. 12, No. 11, Novem ber 20 14:  76 97 – 770 4   7702 G CRLG CRLBc value CRLB have I ) 2 1 ( : _ _ ; / 1 ) ˆ var( (18 )     So the  CRL B c’ of u n cert ain  signal  m odel  u nde h a rsh e n viron m ent have  value a s   sho w n in (15 ) , the  ) ' .... ' ( 2 2 1 n is  come  from  ) ( 2 b   Metho d  2:  m u ltivariate un certai nty robu st statisti cs p r oblem in un certain an alysi s  tools.   Multivariate data analysi s  can incl ude  a la rge nu mber of mea s ured varia b l e s, even   some va riabl es overl ap (it  might be dep ende nt). As shown in Figu re 4.      Figure 4. Factor Analysi s  in  Multivariate Data Proc ess      3.2. The Transmitting  Data Tes t  Design a n d  Robus tne s s  Analy s is  under Ha r s En v i ronment  In tes t  des i gn, firs t is  te stin g co mmuni ca tion influen ce d by environ ment, for tem peratu r e   influen ce th e co mmuni cation ha d b een te sted i n   re se arch  before, i r radi ation influe n c   comm uni cati on had b een t e sted [27] (a s sho w n in Fig u re5  ). Secon d  is testing in  comm uni cati on   proto c ol, ho w much pa cke t  loss rate  ca n be acce pte d . Results sh ow 10% pa cket loss rate  is   rea s on able.         Figure 5. The  Relation ship  betwe en Nucl ear  Irradiatio n and Received Signal Strength at  Different F r eq uen cy    5 5. 5 6 6. 5 7 4 4. 5 5 5. 5 6 4. 5 5 5. 5 6 6. 5 Te m p  Se ct or hum i  S e c t or other S e ctor 2. 4 2. 41 2. 42 2. 4 3 2. 44 2. 45 2. 46 2. 4 7 2. 48 2. 49 -3 8 -3 6 -3 4 -3 2 -3 0 -2 8 -2 6 -2 4 -2 2 -2 0 S i g n a l  F r e que nc y, G H z R e c e i v e d  Si g n a l  St r e ng t h , d B m     Low  I r r adi at i on  F i el d H i gh I r r adi at i on F i el d N o r m a l  env i r onm ent Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
TELKOM NIKA   ISSN:  2302-4 046     Robus t ness   Es timation of  Wireless  ME MS Vi bration  Test un der  Harsh… (Ch a n g jian Deng 7703 Metho d  1:  a s  periodi c data  has infinity numbe r, so ha ve Equation (19).     c b CRLB n ) (   (19 )     Suppo se th Packets l o si n g  du ring  on perio d u nde uncertain  inte rface  is the P o isson  stocha stic p r oce s s; and  the Packets losing in   d i fferent depl oyment is al so the Poi s son  stocha stic proce s s.   And sup p o s all acq u ire d  d a ta tran smit to the re ceiver.  Then u s e (1 3 )  as no rmal signal, (11 )  as robu st sign al , Figure 5 sh ow Possio n missi ng   data is alm o st random, an d the missing  data incr ea se uncertainty,  the mean va lue almo st ha no ch ang e.  Metho d  2:  B a si cally, Fish er info rmatio n di stan ce  D (8 )-(9) ha simila r me ani ng  with  clu s ter an alysis of uncertai n  data (o r to do cross-vali dation).   As sh own in  pape r [28], re liable e s timati ons  of  cla ssifi er a c cura cy u s ing  cross-val i dation  techni que s a nd finite-si z data sampl e s sho w s: the  more  accu rat e  is  a mod e indu ced f r om  a  small am ount  of real-wo r ld  data, the less reli able a r e  the values o f  simultane ou sly mea s ured   cro s s-vali dati on estimate s.          Figure 6. The  Relation ship  betwe en Rob u st Missing S i gnal an d its Mean Valu e       4. Conclusio n   This pap er  p r esents  ro bu stne ss analy s is of  wi rele ss MEMS vibration sen s ors un de harsh  enviro n m ent. In se nsing layer,the  robu st un ce rta i nty analysi s   of sen s o r   sho w s th statisti c   resolution  of test data i s  in verse  propo rtional to  the  h a rsh de gree,  and the  Fish er info rmatio n is  a function  with harsh e n vironment  statu s . In comm u n icatio n layer, the mean value of test d a ta   influen ced by  Possion missing data  i s  almost ran d o m and  the  more missin data numb e increa se s the  uncertainty v a lue of te st d a ta, but  the  mean valu e h a s al most  no  cha nge. It is  also  sho w n  that Fi she r  i n form ation di stan ce   D h a similar mea n ing  wit h  cl uste anal ysis  of u n cert ain   data.      Ackn o w l e dg ements   This a r ticle i s  su ppo rted  by “Chin a -Ca nada  Joint Rese arch Proj ect” (proj e ct  numbe r:  2009 DFA1 21 00) an d Majo r Proje c t of Education Dep a rtment in Sicha n  (13 Z 20 4). For  supp o r t,  contri bution s   to discu s we would li ke   to than the  rest of  M C C (mobil e  com puter ce nter)  o f   UESTC.       Referen ces   [1] Denton  R.  S e nsor  re li abi lity impact on pre d ictive mai n te nanc pr ogr a m   c o sts . W ilc oxon  Res earc h   Report, http:// w w w . w i lc o x o n .com/kno w d esk/ W P MT BF .pdf.   Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                               ISSN: 23 02-4 046                     TELKOM NI KA  Vol. 12, No. 11, Novem ber 20 14:  76 97 – 770 4   7704 [2] Andov er  N D S.  Ingeg neri a  s e l e cts MEMSIC' s  ther mal  acc e l e ro meter f o r u s e in  the i r OEM vehic l anti- theft system s . Broad ba nd T e chno log y   Ltd. Rep o rt. 2004.   [3]  Schan w a l d  LP , et al. R adi ati on effects  on  surf ace micr o m achi ned  com b  driv es a nd  microen gi nes ,   IEEE Transactions on Nuclear  Science .1 99 8; 45(6): 278 9– 2 798.   [4]  Edmon d s L,  e t  al. Ra di ation  Resp ons e of  a  MEMS Acc e ler o meter: an Electrostatic   Force.  IEEE   T r ansactio n s o n  Nucl ear Scie nce .  199 8; 45( 6): 2779- 27 88.   [5]  Lee CI, et al. T o tal Dos e  Effects on Microel e c tromecha nica l  S y stems (ME MS): Accelero meters.  IEEE  T r ansactio n s o n  Nucl ear Scie nce .19 96; 43( 6 ) : 3127-3 1 3 2 [6]  McClure  S, et   al. R adi atio n E ffects in Mi cr o- Electromec han ical  S y stems ( M EMS): RF  R e la ys  IEEE   T r ansactio n s o n  Nucl ear Scie nce . 200 2; 49( 6): 3197- 32 02   [7]  Xi e H, F edder  G . CMOS  z - axis capac itive  accelero mete r w i th comb-finger se nsin g . IEEE Micro  Electro Mech a n ical S y stems  ( M EMS).  Mi y a z a ki. 200 0: 496- 501     [8]  Liu  C, K enn y T W . A hig h - p recisi on,  w i d e -ba n d w i d th   micromach i n e d  tunn eli n g  acc e ler o meter.  J.  Microel ectro m ech. Syst.  2001;10(3): 42 5-4 33.   [9]  Li GZ , Sui  L,  Shi  GC. Stu d y  o n  th e L i n earl y   Ra ng of S-Sha p e d   MEMS Pla nar  Micro-spr i n g .   Te lkom n i ka .  2012; DOI: 10.11591/telk omnik a .v10i6.1427  [10]  Sinh a J. On S t andar disati on  of Acceler o met e rs proc ed ure  for accel e rom e ter.  Journa l of  Soun d a n d   Vibrati o n  .20 0 5 ;  286(20 05): 41 7-42 7.   [11]  Dosch er J. Monitori ng mac h i ne vibr atio w i th micromach i ned acc e l e rom e ters.  Sensors . 1997; 14( 5):   33-3 8 .   [12]  Yoon  SW , Lee  S, Naj a fi K, V i brati on-i nduc e d  errors  in ME MS tunin g  fork  g y rosco pes.  Sensors an d   Actuators A: Physical.  2 0 1 2 ; 180( 0): 32– 44.   [13] T G   Bro w n,  Har s h Military Envi ron m e n ts and  Microel ectro m echa nica l (MEMS) Devices . IEEE Sensors.   200 3; 2: 753– 7 60.   [14]  Patel  C, McCl uske y P.   Perf ormanc e D egr adati o n  of th e  MEMS Vi brat ory Gyrosco pe  un der  Hi ghe r   Stresses . T he Proce edi ngs  of the ASME   201 1 Inter nat i ona l Mec h a n ic al E ngi ne erin g  Con g ress  &   Exp o siti on IMECE20 11, Col o r ado. 20 11.    [15] Stauffer  JM,  Standar d ME MS cap a citive  accel e ro mete rs for hars h   envir on me nt . Procee din g o f   CANEUS 2 006 T oulouse. 2 0 06.   [16]  Barnett V, Le w i T .   Outliers in  Statis tical Data . Ne w  Y o rk: John W ile y & So ns 199 4.   [17]  Che n  N, Y a n g  SP, Pa n CZ.  App licati o n  of  F ault Detecti on bas ed on  H y brid   Intel lig ent  Meth ods.   Te lkom n i ka . 20 12; DOI:10.115 91/telkom nika. v 10i 8.16 34.   [18]  Sm y t P. M a rkov M onitor i ng   w i th  Unk n o w n  States.  IEEE Jour nal  on S e lected Ar eas  in  Co mmun icati o ns, specia l iss ue on i n tell ig e n t signa l proc essin g  for commu n icati ons.   1994; 12( 9):  160 0– 161 2.    [19]  Subram ani am  S, Palp an as T ,  Pap ado po ulos  D, Kal o g e raki   V, Gunop ul os  D.  Onlin outli er d e tection  i n   sensor d a ta us ing n on- para m etric mo de ls.  32nd i n tern ation a l confer enc e on Ver y  lar ge  data b a se s .   Seou l. 200 6: 187-1 98.   [20]  Knorr EM, N g  RT . F i nding intens ion a k n ow ledg of d i stance-b a se outli ers . In V L DB ’ 99.Sa F r ancisco.1 99 9: 211-2 22.   [21]  F r iede n BR,  Rob e rt A, Kal oger aki G, Guno pul os  D.  Exp l or ator y D a ta Ana l ysis  Using F i s her   Information .  L o ndo n: Sprin ger -Verla g Lon do n Limite d. 200 7.  [22]  Carin  L,  Rich a rd GB, C e vh er V, D unso n  D, Mich ae l I J , Sapir o  G,  Micha e l BW Lear nin g  l o w - dime nsio nal s i gna l mod e l-A  Ba yesi an  appr oach  bas ed o n  inc o mpl e te  measur ements .   IEEE Signa process i ng ma g z i n e.  201 1; 28(2): 39-5 1 [23]  Can de`s E, R o mber g J, T a o T .  Signal re cover y  from in compl e te an inacc u rate me asurem ents .   Co mmun. Pur e  Appl.  Math. 20 05; 59: 12 07– 1 223.   [24]  Che n  M, Silva  J, Pa isle y J, W ang  C, Du nson  D, Cari n L. C o mpressiv e  se nsin g on  man i folds  usin g   a   non param etric mixtur e of  fact or  a nal yz ers: Algorit hm  a n d  performa nce   b oun ds.  IEEE T r ans. Signal  Processi ng . 20 10; 58(1 2 ): 614 0 - 6155   [25] Cole  J.  H o w  to dea l w i th miss ing  data . In: Osborne JW.  Editor.  Be st p r a c ti ce s i n  qu an ti ta ti ve  me thods  T housand Oak s , CA: Sage. 2008: 21 4– 23 8.  [26]  Szücs Z ,  Nag y   G, Hodoss y  S,  Rencz M, P o p pe A.  Vi brati o n  co mbi n e d  h i gh  temper ature c ycle tests f o r   Capacitive ME MS Accelem e t e rs .1 3 t h  In te rna t i o na l  Wo rksh o p  on  T h e rma l  In ve sti g a t i o n  o f  IC s and  S y stems. Bud a pest. 200 7: 21 5 – 219.   [27]  Li L, W a n g  Q, Bari A, De ng  C, Che n  D, Ji ang J,  Al e x a n der Q, Sur B.  F i eld test of  w i reless s enso r   net w o rk in the nuclear env ironment,to appear in  AECL RE VIEW . 2014.   [28] Last  M.  T h e  Uncerta i nty  Pri n cipl e of  Cros s-Valid atio n IEEE International  Conferenc e  on Granular   Co mp uting.  2 0 06: 275 - 2 8 0           Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.