Indonesi an  Journa of El ect ri cal Engineer ing  an d  Comp ut er  Scie nce   Vo l.   1 3 ,  No.   2 Febr uar y   201 9 , pp.  7 7 3 ~ 7 7 8   IS S N: 25 02 - 4752, DO I: 10 .11 591/ijeecs .v1 3 .i 2 .pp 7 7 3 - 7 7 8          773       Journ al h om e page http: // ia es core.c om/j ourn als/i ndex. ph p/ij eecs   A study  of refle ction p has e of refle ctarray  antenna s  with hig loss orga nic subst rates       M.   Y. Ism ail 1 , H . I  Ma li k 2 , S . R.  Ma s rol 3 Sha rmi z a Ad na n 4   1,2,3 Univer siti   Tu Hus sein  Onn   Malay s ia (UTHM),  Johor,  Ma lay sia   4 Forest  Resea r ch   Instit ut Ma lay s ia   (FRIM ),  Sela n gor,   Mal a y s ia       Art ic le  In f o     ABSTR A CT   Art ic le  history:   Re cei ved   Oct   29 , 201 8   Re vised  D ec   1 5 , 2 018   Accepte D ec   2 6 , 201 8       Thi pape pre s ent an  ana l y sis   of  ref le ction  phase   of  ref lecta r ra y   ant enn a   base on  high  loss  orga nic   subs tra te   m ateri a l.  Paper   subs tra t m at erial   der ive from   re c y cled  m at er ia ls   was  cha ra ct er i ze for  di elec tr ic   m at er ial   prope rties .   Th m at eri a show exc e ll en di elec t ric   m ateri a pro per ties  wit h   per m it ti vi t y   of   1. 63  and   loss  t ange nt   of  0 . 048 .   Eff ect  of  subs tra t he ight   var iation  ov er  th ref le c ti on  ph as has  b ee d iscu ss ed.   Full  wav ana l y sis  of   the   sim ula t ed  m odel   dep icts  that  the   red uc ti on  in  subs tra te  height  after   a   ce rt ai po int   r e sults  in  ref le c tion  phase   distor t ion  of  ref le c ta rr a y   elem ent .   Vali da ti on  of  t he  result h as  bee done   b y   sim ula ti on,   f abr ic a ti on  and   sca ttering  p aram et ers  m ea sure m ent of  recta ngul ar  pa tc h   el ement   on   proposed  subs tr at m at er ial.   T he  result show   broa dband  fre que n c y   response  of  355  MH and  p hase   ran ge   of  3 01º   at   phase   gra die n of   0. 14 º /MHz .   Ke yw or ds:   Diel ect ric m a ter ia l   Pape s ub st rate   Re flect arr ay  a nt enn a   Re flect ion   pha se     Copyright   ©   201 9   Instit ut o f Ad vanc ed   Engi n ee r ing  and  S cienc e .     Al l   rights re serv ed.   Corres pond in Aut h or :   Muh am m ad  Y us of  Ism ai l ,   Faculty  of Elec tric al  an d El ect ronic E ng i neeri ng ,   Un i ver sit i T un  Hu s sei n O nn  Ma la ysi a,   Parit R aja,  86400, Ba tu  Pa hat,  Johor Mal ay sia .   Em a il yuso fi@u t hm .ed u. m y       1.   INTROD U CTION   Mi cro strip  ref l ect arr ay   disti nguis them sel ves  fr om   oth er  r eflect or   ante nn du to  their  f la ref le ct or   prof il e.  They  ha ve  pro ven  the ir  capa bili ti es  fo l ong  ra ng e   com m un ic at ion   a pp li cat io ns   [1 - 3].  They  c om bin e   the  key  featu r es  of   ph a sed  a rr ay   ante nn a and   t he  dis r eflect or s ty pical   m ic ro strip  re flect arr ay   anten na   consi sts of  a arr ay  of r a diati ng  elem ents o n a flat  d ie le ct ri c su r face that is i ll u m inate by a f eed an te nn a. Th e   el e m ents  on   t he   arr ay   a re  il lum inate in   suc way  to  produce  colli m at ing   beam Thu s   this  m echan ism   el i m inate the  us of  any  m ic ro st rip  feed i ng  li nes  f or  the   e lem ents  com par ed   to  phase  a r rays.  T his  al s cuts  the losse s in  th e arr ay   due to  t ran sm issi on  li ne s,  th us  e nhanc ing  t he  a nten na  g ai n p r op e rtie s.   In   order   to  m a xim iz the  antenn gain  a nd   directi vity pro per   ph asi ng   of   ind ivi du al   el e m ents  on   the   arr ay   is  requir ed.   T his  ha pp e ns   du e   to  s patia ph ase   di ff e r ence  ca us e by   the  flat   surf a ce  of  re flect or  and  the   incident   sphe rical   wa vefront  from   the  feed  ante nn a T he   incide nt  wavefr on has   to   cov e dif fer e nt   phase   le ng th in  sp ac to  reach  the  r eflect arr ay   el em ents  [4 ] So   at   ever el e m e nt  on   the  ar ray   ph ase  com pensat ion   is  do ne  acc ordin to  it po sit ion   in  the   arr ay The  phase  unif or m ity  acro ss  the  arr ay   is  achieve  by   inco rpor at in diff e re nt  el e m ent  sh a pes  su c as  var ia ble  siz patches,  st ub   loa de dela li nes  and   dif fer e nt   ty pes  of sl otted  confi gurati on  of ele m ents [ 5 - 9].   The  ref le ct io phase  of   t he  el e m ents  is  de sired  t acq uir ra ng e   of  360º   a nd   it   is  a esse ntial  requirem ent o f  r eflect arr ay   de sign. An ins uff ic ie nt r an ge  m ay  r esult i ph ase error on the array  thu r esulti ng  in the d e gr a de ra diati on  p e r form ance.  Ano ther  im po rtant p aram et er f or  ra diati on   perfor m ance o re flect arr ay   is  the  ref le ct ion   phase  slo pe.   ra pid ly   changin ref le ct io ph ase  re su lt in  high  re flect ion   ph a se  sensi ti vity Th us   if  the  ref l ect ion   phase  se ns it ivit is  hig her   tha the  et chin tolera nc then  the  phas err ors  ca nnot   no be   Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                          IS S N :   2502 - 4752   Ind on esi a J  E le c Eng &  Co m Sci,   Vo l.   1 3 , N o.   2 Fe bru ary  201 9   :   7 7 3     7 7 8   774   neg le ct e an m ay   resu lt   in  perform ance   de gr a datio n.   T he   ref le ct io ph ase  range  a nd   the  gradie nt  of  curve   are  directl relat ed  to  each  oth e r,   increa sing   the  ra nge  will   increase  the  phase  sensi ti vity   and   vice  ver sa .   Anothe te ch ni qu us e f or  im pr ov in the  ph a se  ra ng is  us in m ulti - la yer   co nf i g urat io ns   or  du al   resonan c e   el e m ents  [1 0 - 14] H ow e ve th us of  m ulti ple  la ye structu res  pose  desig an fa bri cat ion   c halle nges,  wh il sing le  lay er  du al  b an d res on a nce c onfig ur at i on s  inc rease  phasi ng c om plexity  at bo t t he  r es on a nces .   The  pe rfor m ance  of  t he   re flec ta rr ay   is  highl depen de nt  on  th el ect rical   pro per ti es   of  t he  s ubstrat e   m at erial Su bs t rate  m at erial with  lo wer   diele ct ric  per m i tt i vity   are  m or desira ble  due  to  ef fici ent  rad i at ion  pro per ti es  [ 15 ] A dv a nces  i m at erial   te chn ologies  has   bro ught  in  ne an ve rsati le   m a t erial to  en ha nc the   diele ct ric  per f or m ances  for  r eflect arr ay   ant enn a s.  I nnovat ive  m at erial with  la te st  m a nufactu rin te chn i qu e s   are  pro duci ng   eff ic ie nt  re fle ct arr ay   ante nna  desig ns   for  fu t ur c omm u nicat ion   syst e m [1 6,   17] Be sid es  us in c onve ntion al   m at erial  for  re flect arra desig ns re searche rs  ha ve   repo rted  dif fer e nt  in organi an orga nic  m at eri al su ch  as  us i ng   li quid  cryst al and   te xtil base orga nic  m at erial to  acqu i re  tun a bili ty   and   broa db a nd fre quency  be hav i or [18 - 21] .   I al the  sta te te chn i ques  and   m et ho ds   th ref le ct ion   phase  rem ai ns   on of  the  key  con ce r ns   in   te rm of   it ra nge  a nd  gra dien to  achie ve  a dm irable  pe rform ances.  T his  a rtic le   discusse s   the  int rod uctio of  novel  orga nic  diele ct ric  substrat m a te rial   fo ref le ct a rr ay   anten na  to  achieve  br oadba nd   beh a vior.  It   discusse the  eff ect of   us ing   high  los diele ct ric  su bs trat m at erial s   on   ref le ct io ph ase  of  in di vid ual   ref le ct ar ray  ele m ents.  This  arti cl es  pr esen ts  the  diele ct ri m at erial  char act erizat ion   r esults  of   propo s e su bst rate,  the  s i m ulati on   res ults  al ong  with  a   thoro ugh  disc us sio ov e th ph a se  dist or t ion   beh a vi or I the   end, m easur em ent r es ults  of   unit  r eflect ar ray  ele m ents em b edd e d o n pro pose s ub st rate  are  pr ese nted .       2.   ORGA NIC DIE LE CTRIC  SU BST RA TE   M ATERI AL   2.1.     Material  Comp os iti on   The  pro po se diele ct ric  substrat m at eri al   was  de rive f ro m   recyc le orga nic  m at erial s.  Th e   com po sit ion   of  the  pr opos e pap e s ubstrat e   was  ca refull co ntro ll e to  acqu i re  s uitable   diele ct ric  m a te rial   pro per ti es. T he  p a p er  is com po se d of  t wo m a j or c onsti tuents  as stat ed bel ow:   1.   Re cy cl ed  Ca tron Pa per ( 75  %)   2.   Ba nan a  P ulp   ( 25 %)   The  recyc le carto pap e s erv es   as  the   m ai com po ne nt  w hile  the  ba nan a   pulp   act as  bi ndin m edium   fo th m ixtur pa rtic le du t it fibro us   natur e .   The  sam ples  of   t he  pa per   s ub st rate  we re  passe thr ough  dif fere nt  heati ng  an dry ing   sta ge in  orde to  r e m ov any  m oistur c onte nt   that  m igh affe ct   the  char act e rizat ion   resu lt s.       2.2     Charac t eri z at ion  Resu lts   The  pro po s ed  diele ct ric  m a ter ia ls  were  ch ar act erized  f or  t he  el ect rical   pr op e rtie usi ng  broa dban m at erial   char act erizat ion   te chn i qu e base on   pr ob pr i nciple.  T he  pr ob a nd   t he  m at erial   un der  te st  are  bro ught  in   ti ght  co ntact   a nd  the  pro be  m e asur e   the  c ha nges  t he  in   the   fr i ng i ng  el ect ro m agn et ic   fie lds.  A   Sp ea 3.5   m m   diele ct ric  pro be   with  a analy sis  range  of   0.2    20  GH wa us e f or  cha r act eri zat ion   over  the     band. T he results  of m at e rial  ch ar act erizat ion  a re  pr ese nted  i Fi gure  1.   The result s s ho the  va riat ion of  t he rel at ive  diele ct ric p erm it ti vity  ( εr)  and  the los s  tan ge nt ( ta nδ)  of   the  pr opos e m at erial   ov er   the  band   of  i nterest.  Ma te ri al   c har act erizat io sho ws  th at   the   substrat pro vi des  a   m ean  diele ct ric  per m it ti vit of   1.6 al on with  diele ct ric  loss  ta nge nt  of  0.0 48  at     ba nd  f re quency   op e rati on.           Figure  1. Diel e ct ric m a te rial  ch aracte rizat io n res ults   Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
Ind on esi a J  E le c Eng &  Co m Sci     IS S N:  25 02 - 4752       A stu dy of ref le ct ion   phas e  o ref le ct ar ra an te nnas  wi th  high lo ss  or ga nic  su bst ra te s   ( M.   Y.  I sm ail )   775   3.   EFFE CT OF   SU BST RA TE   HEIGHT  O N  R EFL ECTI O P HAS E   The  propose pap e s ubstrat e   m at erial   per form ance  was  a naly zed  by  m od el li ng   unit   ref le ct ar ray  el e m ent  in  f ull - wa ve  a naly sis  too l.  Using   per i od ic   c onduct ive  bounda r conditi on t he  unit   el em en was   si m ulate withTE10  m od of  o pe rati on.  Th m od el   unde r   con si der at io is  sh own  in  Figure  2.  The  m od el   consi sts  of   re ct angular  patch  el em ent  on   diele ct ric  sla gro und  by  m et al li gr ound  plane.   The  el e m ent  is  placed  with  ve rtic al   boundar i es  are  m agn et ic   wall   and   hor iz on ta boun da ri es  are  el ect ric  wall s.  The  i nc ident   el ect ric  fiel ve ct or   is  al so   s how in  Fig ur 2.   T hese  c ondu ct ive  boun da ries  act   as  m i rror for  the  ra diate el ect ro m agn et ic   ener gy  an the  el e m ent  underg oes  si m il a m utu al   coupl ing   ef fects  as  it   is  being   excit ing   in  an  in finite  a rr a y of el em ents.             Figure  2. F ull - wav e  sim ulati o m od el  of  unit  r eflect ar ray el e m ent       In  or der  to  m on it or  the   ef fect  of  s ubstrat he igh over   the   ref le ct io ph a s of   the  patch  el e m ent  the   su bst rate  heig ht   was  swe pt  for  ran ge  of   0.   1.5  m m .   T he  si m ulati on   r esults  for  the  ref le ct ion   loss  a nd   the   ref le ct io phas e are p rese nted  in  Figure 3  and Figure 4 r es pe ct ively . Th e r eflect ion  loss  c urves  s how  tha t wit the  va riat ion   of  substrat heigh from   0. 15   to  m m   the  re so na nt  f re qu e nc sh ifts  f ro m   11.58  to  10. 54  GH z .   More ov e it   ca be  no ti ced   f r om   Figu re  t ha with  the   inc rease  in   the  s ubstrat heig ht  the  band width  of   t he  el e m ent i m pr oves.  Th e  b a nd width i s calc ul at ed  by m ov i ng  10% a bove  t he  m axi m u m  l os s le vel.    An   ab norm al ity  in  the  tre nd  can  be   noti ced   in  the  Fig ur that  from   1 0.66  m m   the  r eflect ion   l os curves  f ollo ty pical   trend  of   inc rease loss  with  re du c ed  substrat he igh t.  Howe ve after  0.66   th loss  sta rts  to  decre ase  agai n.   Thi di ver si on  f rom   us ual  tren can  al s be  noti ced  in  t he   re f le ct ion   ph ase   curves   wh e re  it   can   be   seen  t hat  wit the   dec rease   in  the  substra te   thickne ss  f r om   1 0.6 m m   the  gr a dient   of  the   ref le ct io ph a s increases  sh a rp ly   from   0. 23    0.59   º/M Hz .   Af te f ur t her   decr ease  in  the   su bs trat hei ght  the  ph a se  cu rv s ho a ab norm al   beh a vior  w he re  they   can not  be  unw rappe to  no rm al   ph ase  range.  T his   m igh be  ha ppeni ng   du t inc rease   in  the  diele ct r ic   loss  too   m uch   that  the  ref l ect ion   phase  is   no   l onge f ollow i ng   the  ge ne ric  tre nd.  T hus  li m i is  to  be  def in ed  for  the   s ub s trat heig ht  to   achieve  fruit f ul   ref le ct io ph a se  an ref le ct io los resu lt s.             Figure  3. Re fle ct ion  lo ss c omparis on for va r ia ble  su bst rate  heig ht s     Figure  4. Re fle ct ion   ph a se c om par ison   for v ariable  su bst rate  heig ht s   Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                          IS S N :   2502 - 4752   Ind on esi a J  E le c Eng &  Co m Sci,   Vo l.   1 3 , N o.   2 Fe bru ary  201 9   :   7 7 3     7 7 8   776   4.   MEASU REM ENTS  AND R ESULT S   Af te r   the   cha ra ct erizat ion   of  t he  orga nic  s ubstrat m at erial   and  ver ific at io of  the   sim ula ti on   desig n,   validat io of   resu lt was  done  by  fabrica ti on   of  un it   ref le ct ar ray  el e m ents  on   pr opos e substr at e.  The  fabrica ti on   w as  carrie ou us in ad he sive  co pper  t ape.  Scat te ri ng  pa ram et er  m easur em ents  wer perform ance  usi ng   a X - ba nd  ta pe red   wa ve gu i de.   T he  fa br ic at ed  sam pl es  an the  c om ple te   m easur e m ent   set up are sh ow in  Fig ure  5.         (a )   (b)     Figure  5. Fa br i cat ion  a nd m ea su rem ent ( a)   F abr ic at ed  sam m ples ( b)  C omplet e scat te rin g pa ram te rs  m easur em ent setup       Figure  5( a shows  t he  fa bri cat ed  sam ples  on   pro posed  s ub st rate  m at eri al Mult iple  sam ples  wer fabrica te an te ste to  achieve  rep eat a bili ty   of   resu lt s.  More over  the  fa bri cat ed  el e m ents  wer m easure for   their  fa bri cat ion   tole ran ces   an the   dif fere nc es  in  the   dim e ns io wer e   inc orp or at ed   in  t he   sim ulatio m od el s .   The  set up pres ented  in Fi gure  5 ( b)  c on sist s of a  wav e guide  si m ulator  at ta ched  to  a R odhe  &  Schwarz  14 G Hz   vecto net work  a naly zer  via  a   coax ia cable The  scat te rin par am et ers  we re  rec orde an the com par iso was dra w n between  the  sim ul at ed  an t he  m easur e d res ults.    The  m easur e an sim ulated   re su lt of   unit   ref le ct ar ray  el e m ents  on  pro po se orga nic  substrat e   m at erial   ar presented  i Fig ur 6.   The  res ults  pr e sente in  Fig ur s how  a   go od   a gree m ent  betwee th e   si m ulate an the  m easur ed   res ults.  T he  r eflect ion   l os curves  s how   a   res on a nce  at   9.92  G Hz  w hile  the   si m ulate m odel   sh ows  res on a nce  at   9.9 GH z The  si m ula te ref le c ti on   loss  c urve show  m axim u m   ref le ct io loss  of   - 4.3 dB  w hi le   the  m easur ed  cu rv s how loss  of  - 8.24   dB.  T his  incre ase  in  the  re flect io loss  m igh be   du e   to   the  m easur em ent  set up  lo sses  s uc as  inse rtion  lo ss  an co nnect or  losses T he   ba nd   wid th  of   t he  re flect ion   los c urves  is  m easur ed  as  10%  ba ndwidt h.   T he  r esults  show  ba ndwidt hs   of  682  a nd   355  M Hz fo si m ula te an m easur e d reflect i on loss  cur ves respecti vely .     The  ref le ct io ph a se  cu r ves  presente in   Fig ur de pict  cl os tre nd  bet ween  th m easur e a nd  the  si m ulate cu rves.  It   can   be   noti ced  t hat  the   cu rv e s how   m axi m u m   gr a dient  at   t he  re so na nce   point   of  the  el e m ent  and   t he   phase  gr a die nt  dec reases   gr adu al ly   be f or and  after   the  re so na nce   point.   The  ref le ct io ph a se  curves  dep ic r eflect io ph ase   gr a dients  of   0.1 an 0.14   º/ MHz  f or   sim ulate an m eas ur e phase  c urves .   The  phase  c urves  co ve phas ranges  of  24   a nd   301º   for   si m ulate and  m easur ed  resul ts.  It  can  be  noti ced   that  the  m eas ur e ref le ct io ph ase  cu rv e s   are  gr eat er  th an  the  si m u la t ed  ranges Thi occurs  due  to  the  increase i t he l os of  t he refl ect arr ay  elem e nt since  incre a se in l os res ults in a  w i der   ph ase ra ng e .   The  re flect arr a un it   el em ent ab ov t he  pr opos e s ubstra te sh ow  cl ose   agr eem ent  be tween  the   m easur ed  a nd   the  si m u la te resu lt s.  The  ri pple prese nt  in   the  m easur ed  resu lt of  ref le ct ion   loss  cu r ve are  du to  dev ia ti on   of   wa ve gu i de  si m ulator  from   it ideal   beh avi or.  More ov e the  prese nted  res ults  show  tha t   with  lo diele ct ric  per m it t ivit m a te rial broa db a nd  f re qu e ncy  res ponse   can  be  achi eved.  H oweve this  com es  at   cos of   ref le ct io ph a se  ra nge  a nd  the   gradie nt  of   t he  ph a se  c urve.  M or e ove w hile  fa br ic a ti on   of   the  ref le ct arr a antenn m ini m u m   heigh of   the  sub strat sh ould  be  m a intai ned  to  achieve  accurat e   scat te ring   pa ra m et er r esults.     Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
Ind on esi a J  E le c Eng &  Co m Sci     IS S N:  25 02 - 4752       A stu dy of ref le ct ion   phas e  o ref le ct ar ra an te nnas  wi th  high lo ss  or ga nic  su bst ra te s   ( M.   Y.  I sm ail )   777         Figure  6. Re fle ct ion  lo ss c urv es for  m easur ed  a nd  si m ulate res ults com par iso n     Figure  7. Com par is on of m easur e a nd sim ulate ref le ct io n ph as e cu rv es       5.   CONCL US I O N   Novel  ref le ct ar ray   ante nn a   el e m ents  base on  orga nic  s ub st rate  m at erial   has  bee presen te f or    band  f reque nc op erati on.  T he  cha racteri z at ion   of  the  m at erial   sh ows  excell ent  diele ct ric  pr oper ti es  for   broa db a nd  f re qu e ncy  op e rati on.  T he  a naly s is  of  the  ef fect  of  s ubstrat e   he igh var ia ti on   over   the  s cat te rin par am et ers  sho that  durin t he  desig ning  of  the  ref le ct ar r ay   un it   el em ents  m ini m u m   su bst rate  he ig ht   m us t   be  m ai ntained   to  ac quire  s ui ta ble  ref le ct io ph a se  c urve s.  Un it   re flect arr ay   el em ents  fa br ic at ed   ov er  the   pro p os e subs trat m at eria sh ow   broa dba nd  f re qu e ncy  beh a vior  of  355  MHz   ba nd width,  al ong  with  a adequate   phase  r a ng e  covera ge  of  301º.       ACKN OWLE DGE MENTS   The  w ork  was   f unde by  G PPS  Gr a nt  (VOT 466),  R ACE  G ran t   ( VOT 1119)   an Re s earch   F un UTH M  aw a r de d by Mi nis try   of H i gh e E du cat ion  Mal ay sia .       REFERE NCE   [1]   J.  Huang,   Capa bil ities  of  print e ref le c ta rr a y   an te nnas, ”  in  Proc ee dings  of  Inte r nati onal  Symposium  on  Phased   Array  Syste ms   a nd  Technol og y ,   pp.   131 134 .   [2]   J.  Huang,   Space cra f Antenna   Resea rch   and  Deve lopment  Act i vit ie Aim ed  at   Future  Miss ions , ”  in  Spac eborne   Ant ennas for   Pl a net ary  Ex plorat i on ,   Hoboken ,   NJ ,   US A:  John W ile y   &   Sons ,   Inc . ,   2006,   pp .   485 5 36.   [3]   P.  Na y eri,  F.  Y a ng,   and  A .   Z .   E l sherbe ni,  Bea m - sca nning  r efl e ctarray   ant enn as:  te chnica over vie and  st ate  o the   art,”   IEEE A nte nnas P ropag.   Mag. ,   vol .   57 ,   n o.   4 ,   pp .   32 47 ,   Aug.  2015.   [4]   J.  Huang and  J.   A.  Encinar ,   Re f l ec tarray  an te nn as .   IEEE, 2007.   [5]   C.   Tienda ,   J.  A.   Enc in ar,   M.  Ar reb ola,  M.  Barb a,   and  E.   C arr as co,   Design,   m a nufa ct ur ing  and   te st  of  du al - ref lectarra y   an tenna  with  improved  bandwidt and  red uc ed  cro ss - pola riz a ti on,   IEE Tr ans.  A nte nnas  Propag. vol.   61 ,   no .   3 ,   pp .   1180 1190 ,   M ar.   2013 .   [6]   R .   S.  Malfa j ani   and  Z.   Atl asba f,   Design  and  Impl ementation  of  Dual - Band  Sin gle   Lay e Ref le c ta rra y   in  and  Bands, ”  I EEE  Tr ans.  Antennas P ropag. ,   vol .   62 ,   no.   8 ,   pp .   4425 4431,   Aug.   2014 .   [7]   J.  H.  Yoon,  Y.   J.  Yoon,  W .   Le e ,   and   J.  So,   Square   Ring  El ement  R eflec t arr a y W it Im prove Radiat io Chara c te rist ic b y   Redu ci ng  Ref l ec t ion  Phase  Sensiti vity , ”  IE EE   Tr ans.  Ant ennas  Propag. ,   vol .   63,   no.   2,   pp .   814 818,   Feb .   2015 .   [8]   X.  Xia,   Q.  W u,   H.  W ang,   C.   Yu ,   and  W .   Hong,  W ide band  Mill imete r - W ave   Mi cro strip  Ref le c tar ra y   Us ing  Dual - Resonanc e   Unit   Cel ls, ”  I EE E   Antennas Wi rel .   Propag.   Let t. ,   vo l. 1 6,   pp .   4 7 ,   2017 .   [9]   B.   D.  Ngu y en ,   K.  T.   Pham ,   V.   S.  Tra n,   L .   Ma i,   and  N.  Yone m oto,   Refl ec t ar ra y   el emen using  cut - ring  pa tch   coupl ed   to   dela li n e,”  IE EE A nt ennas  Wirel. Propag.   Let t. ,   vo l. 1 4,   pp .   571 574 ,   2015.   [10]   J.  A.  Enc ina an J.  A.  Zornoz a,  Thre e - lay e pr int ed  ref lecta rr a y for  cont oure d   bea m   spac app li c at ions, ”  IEEE  Tr ans.  Ant ennas Propag. ,   vol. 52, no. 5, pp. 1138 1148,   Ma y   2004 .   [11]   C.   Han,   J.  Huang,   and  K.  Chang, “A   high  e ffic ie n c y   offse t - fed   X/ Ka - dual - band  re fle c ta rr a y   using thin  m embrane s,”   IEE E   Tr ans.  Antennas P ropag. ,   vol.   53 ,   no .   9 ,   pp .   2792 2798 ,   Se p.   2005 .   [12]   S. - W .   Qu,  S.  Mem ber ,   Q.  Ch en,   and  M . - Y.  Xia,   Single - Lay er   Dual - Band  Re  fl  e ct a rra y   W it Single   L i nea Polari z at ion ,   20 12  Int. Conf.  M i crow.   Mi ll im .   W ave   Te chnol. ,   vo l.   62 ,   no .   1 ,   pp .   1 99 205,   Ma y   20 14.     Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                          IS S N :   2502 - 4752   Ind on esi a J  E le c Eng &  Co m Sci,   Vo l.   1 3 , N o.   2 Fe bru ary  201 9   :   7 7 3     7 7 8   778   [13]   J .   A.  Enc ina e t   al. ,   Dual - Pola riz a ti on  Reflec tarra y   in  Ku - band  Based  on  Two  Lay ers  of  Dipole - Arra y for  Tra nsm it - Recei v Sat el l it e   Anten na  with   South  A m eri ca C ov erage,   2017  11 th  Eur.   Conf .   Ant e nnas  Propag. ,   p p.   80 83,   Mar .   201 7.   [14]   T.   Cai,  G. - M.  W ang,   and  X. - F.  Z hang,   Com pac Dual - Resonance  El ement  with  Low  Phase  Sens it ivit y   for  Offs et  Refl e ct arr a y   Ant enna s,”   IE EE A n te nnas Wi re l. P r opag.   Let t. ,   vo l.  16,   pp .   1213 12 16,   2017 .   [15]   C.   A.   Balanis,   " Ant enna   the ory :   analy sis and   de sign" ,   3rd   ed. Jo hn  W il e y   Son s,  Inc . ,   2005.   [16]   P.  Na y eri  et  al . ,   3D  Printe Di el e ct ri Re flectarra y s:   Low - Cost   High - Gain  Ant enna a Sub - Mi ll imeter  W ave s,   IEE E   Tr ans.  Antennas P ropag. ,   vol.   62 ,   n o .   4 ,   pp .   2000 2008 ,   Ap r.   2014 .   [17]   B. - J.  Chen ,   H.  Yi,   K.  B .   Ng,  S. - W .   Qu,  and  C .   H.  Chan,   3D  Printe R efl e ctarray   Ant enna   at   60   GH z, ”  3D  Prin t .   Re flec tarray  An t enna  60  GH z ,   pp .   92 93 ,   2016 .   [18]   W .   Hu  et   al. ,   Li quid - cr y sta l - base ref l ecta rr a y   antenna   wit el e ct r oni ca l l sw it cha bl m onopulse  pat t ern s , ”  El e ct ron.   Lett. ,   v ol.   43 ,   no .   14 ,   p .   744,   2007 .   [19]   M.  H.  Dahri   an M.  Y.  Ism ai l,  Perform anc Anal y sis  of  R ef le c ta rra y   Reson ant   E le m ent ba sed  on  Dielec tr i Anisotropic   Ma t eri a ls,”  Proce d ia   Eng. ,   vo l. 53, p p.   203 207 ,   Jan .   2013.   [20]   M.  M.  T ahse en   and  A.  A.   Kishk,  C - Band  fl exi b le   and  port abl e   c irc ul arly   po la ri z ed  t ext ile - re flect arr a y   ( TRA),   in   2017  IEE E   Inter nati onal  Symp osium  on  Ant en nas  and  Propagati on  &   USN C/URSI  Nati on al  Radi S cien ce  Me eting ,   2017,   p p.   87 88 .   [21]   M.  M.  Ta hsee and  A.  A.  Kishk,  Prac ti c al   Inv esti gation  of  Diffe ren Pos sible   Te xitil Unit  Ce ll   for  C - band   Portabl e   Te x ti l e Refl e ct arr a y   Us i ng  Conductive T hre ad,”  Prog.   Elec tromagn. Res.   B ,   vo l. 66, pp. 1 5 29,   2016 .     Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.