TELKOM NIKA Indonesia n  Journal of  Electrical En gineering   Vol.12, No.5, May 2014, pp . 3713 ~ 37 1 8   DOI: http://dx.doi.org/10.11591/telkomni ka.v12i5.5004          3713     Re cei v ed O c t ober 3 0 , 201 3; Revi se d Decem b e r  20, 2013; Accept ed Ja nua ry 7,  2014   Accurate Low-Current Measur e ment Circuit for  Multimeters and Oscillograps      Shuqin Gen g *, Chen Liu,  Jinhui Wan g , Ligang Ho u, Ying Yuan  Dep a rtment of Electron ic Information a nd C o ntrol Eng i n eeri ng, Beij ing U n i v ersit y  of T e chnol og y 1 509 #,  Beijing Univers i t y  of T e chnology , 100hao, Ping ley u anlu, Chaoy ang dist rict, Beijing, China  *Corres p o ndi n g  author, e-ma i l : gengs hu qin @ bjut.e du.cn       A b st r a ct   A simp le a n d  high- precis io n cu rrent-to-v o ltag e (I/V) converter circ ui t for multi m et ers an d   oscill ogr aphs  i s  prese n ted  in  this pa per. T h e I/V conver ter  measur es the  electric c u rre n t  w i th  uA an n A   selecta b le ra ng es in the frequ ency ran ge fro m  dir e ct cu rren t  to 1MH z . C i rc uit techno lo gy is also disc usse d.   System Archite c ture is presen ted and  d ual p o larity pow er is  desig ned. Po w e r detector circuit is expla i n e d .     Measur e m ent  data ar e o b tai n ed. Li ne arity a nd the  error  ar e an aly z e d . T h e typica l acc u r a cy of the  μ Cur r ent  is hi gher  by 0. 085 % in  the  μ A and  nA ra ng es.  μ Curre nt c an b e  us ed  in  detectin g  l o w  uA and  nA i n  cu rren t   systems, chi p s ,  and modu les.     Ke y w ords :  I/V converter, low  current, hig h  pr ecisio n, measu r ement     Copy right  ©  2014 In stitu t e o f  Ad van ced  En g i n eerin g and  Scien ce. All  rig h t s reser ve d .       1. Introduc tion  Accu rately m easurin g the   slee p an d o p e rating  curre n t of a mi crocontrolle r [1] a nd oth e module s  of  embed ded  systems i s  a  comm on ta sk. Nu merou s  mea s ureme n t appli c ation s  of   high-i m ped an ce devi c e s  such a s  ultrasound pi ezoel ectro n ic t r an sducers are u s ed in  “surfa ce ”  microscopy [2-5]. Tuning forks, torsion  oscillators , and elect r ostatically dr iven  grids are types of  useful  experi m ental tool s for stu d ying  the phy si cal  prop ertie s  o f  quantum li quid s  an d ot her  system s at low an d very  low tempe r ature s   [6]. Lowe r  su pply  voltages for current batt e ry- powere d  circuits co rrespo nd to greate r  req u ir e m en ts for accu rately measu r ing the sup p l c u rrent [7].    Ho wever, in   our  experim e n t, the end n ode of  wirele ss se nsor net works will  not   tran smit  or  re ceive  d a ta when  th e en d-n ode   curre n t of  wi rele ss sen s o r  n e two r ks i s  m onitored  by  multimeter.  Howeve r, the  e nd n ode  fun c tions  we ll  wh en the  en d-n ode  cu rrent i s  n o t mo nitored.  The  sam e   probl em  occurs the  whe n  the  multi m eter i s   ch ange d. The  re ason fo r this  phen omen on  is that th e b u rde n  voltag e is typi ca lly  spe c ified i n   mV/A. The value  cha nge s with   varying  cu rre nt ra nge s. T hus, th e b u rden  volta ge  may have  1 m V/A, 1mV/mA, or  1mV/ μ A.  Multimeters with good p e r forma n ces  will at leas t decrea s e the  value to 0.1 mV/uA. During   transmissio n, the  system  cu rr ent i s   approximatel y 16mA, a n d  4 - , 4.5 - 5-, a nd  6-di git  multimeters will decre ase  the value to  1.6V, t hus ca usin g dysfun ction to the end-n ode  syst em.  Jon e s [1] en cou n tere d this pro b lem in  the past an d desig ned  an adapte r  for multimeters.  Ho wever, th e  battery volta ge di re ctly su pplie s po we to the  circuit. Thu s , a  de crea sing  batte ry  voltage influe nce s  mea s u r ement pe rformance. An  additional feat ure is the nA  current ra ng e,  whi c h i s  not f ound i n  mo st multim eters. Measuri ng th e cu rrent with  prob es i s  n o t  conveni ent for  oscillog r ap hs.  Such  a s  sp eaki ng voi c e  and  huma n  body move ment cau s ed  by vibration  will   affect the me asu r em ent in strum ent.   To achieve n o ise  redu ctio n as far  as  possibl e, cu rrent ad dition  of vibration isolatio device in the circuit, fixtures, while out si de of t he instrume nt incre a se d shiel d in g box to redu ce  the slight vi bration  on  measurement  result of  external interf eren ce, the  cost of hi gher  impleme n tation is more co mplex [8]. Thus, we aim  to  improve the desi gn ci rcuit in this study for  conve n ient conne ction  with oscillog r ap hs.         Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                               ISSN: 23 02-4 046                     TELKOM NI KA  Vol. 12, No. 5, May 2014:  3713 – 37 18   3714 2. Sy stem Architec ture   Low-current  monitor  s y s t ems  mus t  hav e low  nois e low drift, and ul tra-low offs et.  The  curre n t mea s urem ent sy stem archite c tu re i s  sho w as Fi gure 1.  The  system i s  con s iste d o f  a   low  cu rre nt [9], an a c tive  cu rre nt-to-vo ltage (I/V co nverter, a  bat tery, a low  dropout  (L DO),  a   power  dete c tor, an d a d u a l pola r ity po wer supply.   The d ual p o l a rity po wer supply for th e  I/V  conve r ter.  Th e I/V circuit   module  mu st  be  highl p r eci s e.  The   output  can  b e  conn ecte d  to   multimeters o r  o scill ograph s, and  the I/ V circui t m o d u le ha s t w o I / V chan nel s f o cha ngin g  the  measurement  range  (uA/n A ).          Figure 1. Block  Diag ram o f  a Low-cu rre nt A dapter System for Multi m eters and O scill ograph     2.1. I/V Con v erter Mo dule   Figure  2  sho w the sch e m atic of a non-inve rting l oop amplifie r. Suppose th e closed- loop a m plifier use s   an id ea l ope rational   amplifier  (op   amp). An i n finite ope n-lo o p  gain Av  cau s e s   op amp s  to h a ve almo st zero in put differential vo lta ge, thus, the  relation shi p  b e twee n the in put  and outp u t voltages i s  as fo llows:       in in in  /      1   * 4 9 / 1 1 * 5 0 ou t f VR R V V V  ()                                   (1)    Whe r e  the  re sisto r   and  t he fee dba ck  resi stor Rf  ca n be  a  value   of IK  and IM , respec tively,   with a magnifi cation rang e of 0 to 100.          Figure 2. Sch e matic of a Simple       Several  ele m ents i n flue nce  data  accuracy,  su ch  as the  noi se  pro d u c ed  by the   electrometri c amplifier, pre c isi on  of the  scaling  re si stor, ci rcuit  of t he me asured  cu rrent, ci rcuit   techni que s,  measurement  enviro n me nt, and  cable s The o p  a m p i nput imp eda n c e i s   not infini te,  and the re si stance  Rf is subje c t to the limits  of the amplifier inp u t impedan ce. The prima r factors affecti ng the se nsit ivit y of the micro - curre n t measurement  are op am p bias  curre n t Ib,  noise-voltage, and zero-point drift. The instantane ous value of the input  noise current of  th e   amplifier i s   b a se d on  the  curre n t ori g in ating fr om  co nstru c ting  an d ci rcuit ele m ents,  su ch  as  leakage of i n sul a tors, ca bles, a nd p r i n ted ci rcuit boards  (PCB s) d u ri ng tra n smi ssi on. T h e   instanta neo u s  value  of the noi se  cu rrent of  the  amplifier i s   based o n  th e cu rrent of  th e   instanta neo u s  value of thermal noi se vo ltage of  the scalin g re sisto r  and the in stantane ou s value     Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
TELKOM NIKA   ISSN:  2302-4 046     Accu rate L o w-Cu rrent Mea s urem ent Circuit  for Multi m eters and O scill ograp s (S huqin G eng 3715 of input noise  voltage of the amplifier a n d   the input offset voltage of  the amplifier.   MAX4239 i s   one of the M a xim int egrated produ cts,  CA in USA.  It is an  ultra - lo w offset,   low  nois e , low drift, and ul tra-high-prec is ion amplifier that offe rs near-zero dire c t  c u rrent   (DC)  offset and  d r ift by paten ted auto c orrelating  ze roi ng techniq u e s. Thi s  me thod con s ta ntly  measures and compensates   for the input offs et, thus eliminatin g drift, temperature,  and 1/f noise  effects over ti me. Device  feature  rail-to -rail  out put s, operate  from a  si ngle   2.7V  to 5.5V  supp ly,  and  co nsume  only 6 0 0 μ A.  An a c tive-lo w  sh utdo wn  m ode  de cre a se s the  supply  curre n t to 0.1 μ [10].  Given that an  ammeter wit h  an active I/V c onverte r d oes n o t have  the short c o m ings of  an ammete r with a passiv e  I/V converter (i.e., ex ce ssive inp u t re sista n ce and  a shunt volta ge)   [11], a feedba ck  stru cture is sel e ct e d  for this low-cu rrent adapte r Figure 3  sho w s th e sch e m atic of the I / V c onverte r.  A low  curre n t passe s th rough th resi stan ce, th us  cha nging  the cu rrent to ui. The  ui  then multiplie s the am plification fa ctor  o f   MAX4239, th us  re sulting i n  Vout. Two  curre n t ran g e s  a r e d e fined  by the sh unt  re sisto r  on  e a ch   rang e and th e gain of MAX4239.       Figure 3. I/V  Conve r ter  Circuit       R9  (20 K 0. 1 % ) is the  shu n t re sisto r  for t he nA rang e, R9 p r ovid e s  a b u rden v o ltage of  20 μ V/nA (1  nA*20 K). T he 20 μ sig nal an d 1m V (20 uV* 5 0 )  is the i npu t and outp u t of  MAX4239, re spe c tively. The o scill ogra ph o r  mult im eter  will di spl a y 1mV. R10  (20  R 0.1% ) is  swit che d  in t he  μ A rang e by SW1B, which p r ovide s  a burde n voltage of 20 μ V/ μ A (1 μ A*20 R).   S W 1A  s e le ct s w h ic h s h u n t  resi st o r  is  f ed t h ro u g h  the amplifie r. Table  1 shows the  cu rrent   rang e.      Table 1. Unit  of I/V and I in -m a x   Unit I/V  Iin-max  uA 1mV/uA  ±2200uA   nA 1mV/nA  ±2200nA       2.2. LDO Voltage  Regula t or  A stable volta ge can  redu ce the ne gative e ffects on measurement   ac cu ra cy; he nce,  we   cho o se the v o ltage  regul ator  chip s. Th HT73 50 i s  o n e  of the  HOL T EK Taiwa n   Compl e me ntary  Metal Oxide  Semico ndu ct or (CM O S) L D O voltag e r egulato r s. It i s  u s ed  in thi s  devi c e. Thi s   voltage re gul ator can deli v er up to 25 0m A of cu rre nt while  con s uming o n ly 4 μ A of quiescent   curre n t (typical). A se ries  of four al kalin e batte rie s  a r e use d  in this device. Th e device  can  u s e   lithium battery, which re sults in low  cut-off vo ltage. The alkalin e battery is  a gree n devi c e,  whe r ea s lithiu m  battery cau s e s  poll u tion.  The inp u t an d output volta ges  of this d e vice is  6 an 5   V, respe c tivel y . Both the dropout voltage  and tempe r a t ure co efficie n t are low.       Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                               ISSN: 23 02-4 046                     TELKOM NI KA  Vol. 12, No. 5, May 2014:  3713 – 37 18   3716 2.3. Dual Polarit y   Po w e r   The I/V con v erter  need s a bal an ced  dual  pola r ity powe r . M C P600 2 i s  o ne of th e   Microchip T e chn o logy In c. USA, whi c h   is a n   op  amp  that ha s a  1 M Hz gai n ba ndwi d th p r od uct   and a  90°  ph ase  margin  (typ.). This  op  amp al so m a i n tains  a 45 °  pha se m a rgi n  (typ.) with  500  pF ca pa citive load. R1 a n d  R2 di stribute  the ba ttery voltage. MCP6 002 supp ort s  rail-to -rail inp u t   and outp u t swing s . The  d ual pola r ity in this device i s  2.5 an 2.5 V. This op  amp is  de sig ned   with the adv anced CM O S  process, which h a s a  p o we r su pply rang e of 1.8 V to 5.5 V.  The   output voltag e rang e of the MCP60 02 op amp is VDD   25 mV (min.) and VS S + 25 mV (max.)  whe n  RL  = 1 0  k  a nd is  con n e c ted to  VDD/2 an d V DD  = 5.5V. The MCP6 0 01/2/4 op am p is  desi gne d to prevent pha se  reversal  whe n  the  input pi ns exceed th e sup p ly voltages [12].     2.4 Po w e r Detec t or  Desi gn  Figure 4  sho w s th e po we r and po we r d e tector   sche matic. Anoth e r OA of M C P6002  can   detect  and  de termine  the b a ttery voltage . Whe n  the  b a ttery  ene rgy is sufficient a nd  the device   is  turned  on, the output voltage of IC1B  is high er  tha n  the thre sho l d voltage of Q1. The outp u t   voltage will  tu rn o n  Q 1  an d  the g r een  L E D will  be co me b r ight. When the  batte ry voltage i s  l o w,  the output vol t age of IC1B  will be  lower than the threshold of  Q1  and Q1  will be t u rned off. The  use r   can  cha nge th e batt e ry when  the  red  LE D be come bri ght . Thre zero  re sista n ces  are  pre s ent an d a r e used to ma ke hol es a nd interconn ect comp one nts conve n iently.        Figure 4. Power a nd Po wer Dete cto r  Schem atic      2.5 Circuit T echnique   Circuit te chn o l ogy is im port ant for a c hi eving hig h  p r e c i s ion, m e a s uri ng lo w curren ts, and   cho o si ng hig h -pe r forman ce op amp s Rea s o nable  and reliable  circuit elem e n ts sh ould b e  sele cted, such a s  hig h -resi stan ce   pre c isi on an d low-noi se  platinum resi stan ce, t anta l um ca pa citors for l o w n o ise, an d hi gh   insul a tion  ma terials su ch as  comp osite - co ated  cop p e r for PCB u s e [13, 14]. Short overhe ad   microwave-shielde d  cabli ng  can   be  used a s  i nput a nd o u tput  sig nal line s . P C B su rface le a k ag effects  need   to be  con s id ered  in a ppli c ation s   whe r e low inp u t-b i as  cu rre nt is criti c al. Surf ace   leakage i s   ca use d  by hu m i dity, dust, or other  co nta m inants on t he bo ard.  Th e use of a  g uard  ring aro und  sen s itive  pin s   i s   the ea si est way  to   redu ce  su rface lea k ag e. T he gu ard ri n g  is  biased at th e sam e  voltage a s  the  sen s itive pins. In ord e r to shield t he ci rcuit from  electroma gne tic interferen ce, the entire circuit  was  enclos ed within a metal s h ield  box [15].      3. Measurem e nts   Measurement s a r perfo rmed in  a l a b o rato ry  to d e t ermine  the  cha r a c teri stics of th circuit pe rformance. The  Keithley Mod e l 240 0 of Ke it hley  I n st ru ment s I n c.  in  U. S . A .  serv e s  a s   the con s tant  curre n t sou r ce of th e I/V  conve r ter,  an d FL UKE 8 5 08A referen c e multimete r  is  use d  a s  th output voltag e dete c tor.  T he exp e rim e ntal environm ent tempe r at ure fo dete c ting   nA and  uA  pa ramete rs are 1 8 .5  and  18.9° C,  re spe c tively. We  co ndu cted five  ci rcle   measurement s, and e a ch  step i s  app ro ximately  100 uA. Figure  and Fig u re  6  sho w  the lo w- Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
TELKOM NIKA   ISSN:  2302-4 046     Accu rate L o w-Cu rrent Mea s urem ent Circuit  for Multi m eters and O scill ograp s (S huqin G eng 3717 curre n t dete c tor ave r ag e x perime n tal  result s of  the five circle s for t he uA and nA param eters.  The typical a c cura cy of th μ Cu rrent i s  better tha n   0.085% in th μ A and  nA  ran g e s . Figu re 5   and 6  presen t the DC cha r acteri st ics  of the average  output  voltag e of the I/V converte r for t h e   f i v e  circle s.           Figure 5. DC  Cha r a c teri stics of the I/V  Conve r ter for  the Input uA Curre n Figure 6. DC  Cha r a c teri stics of the I/V  Conve r ter for  the Input nA Curre n     From  Fi gu re 5  and 6,  we can se that with  the  I in  in cre a si ng,   V out  is Lin ear increa sing.   DC  cha r a c teristics of the I/V converte r for the in p u t nA and uA cu rrent is g ood.  Method of le ast  squ a re s i s  u s ed to fitting li ne [16] for t h e five circle  measurement  data Th e ratio is 0.0 010 0 1  for  uA and 0.001 000 for nA.     =  (V out /1000 - I in )/ I in                                                                                      (2)      Figure 7. Erro r of the Input uA Current   Figure 8. Erro r of the Input nA Current       Figure 7  sh o w s t he me asurem ent data  error  rate . It  is  cal c ulate d  by (2 ) with  the five  circile s avera ge value of e x perime n t dat a. The e rro r rate increa se s with incre a si ng input  cu rre nt.  From Fig u re  7, we can  se e that when  the input  cu rrent passe s the 1400 uA , the error rate  is   about 0.0 7 2 % , which is  caused by the   denomi nato r  i n crea sein g fa ster th an the   nume r ator of  (2).  Phenom eno n  of nA is the  same  as th curre n t of uA.The high est  error  rate Δ of uA is 0.08 5 % whi c h can sa tisfy most low-cu rre nt systems. Wh en the cu rrent of  uA bec o m es small, the erro rate i s  be co me sm all too ,  which is ne ar the  ze ro.  From Fi gu re  8, we  can  see that with   the  curre n t incre a sin g , the error rate be co mes  sm all; when the  cu rre nt of  nA passe s 140 0nA,  the  error  rate  be come s l e ss t han 0.0 2 %. Ho wever, F r o m  Figu re 8,  we  can  al so  see th at with  the   curre n t beco m es  small, the error rate b e com e s la r g e  reversely, which i s  ca use d  by the pre c i s ion   Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                               ISSN: 23 02-4 046                     TELKOM NI KA  Vol. 12, No. 5, May 2014:  3713 – 37 18   3718 o re siste n ce, the offset voltage, noise a nd PCB  lea k age current.  Offset adju s t m ent circuit s   can  be u s ed to i m prove th e p r esitio n.The h i ghe st error  rate Δ of nA is 0.1%, which  can  sati sfy most  low-cu rrent systems.       4. Conclusio n   We have  pre s ente d  the I/V converte r circuit  a nd it t e chni cal  cha r act e ri st ic s wi t h  t w o- cha nnel  rang es. T he  esse ntial featu r e s   of the I/V  con v erter are  its simpli city  an d   high p r e c isi o with a f r eq ue ncy rang e of  1MHz. T he  dual p o la ri ty power  and  p o we r d e tecto r  is conveni e n tly  use d . The measurement  data are a nalyse d  and  e rro r rate i s  low. Ci rcui t techniqu es are   importa nt for the reali z atio n of high pre s iti on of I/V converte r. The  highe st error rate Δ of uA i s   0.085%, whi c h ca n satisfy most lo w-cu rre nt system s. The hi ghe st error  rate Δ of nA is 0. 1%,   whi c ca sat i sf y  mo st  lo w- cur r e n t  sy st e m s.  Th Li ne arity is an alized. Th e I/V converte r i s  u s ed  in the detecti on of low uA and nA cu rr e n t system s, chips, an d mo dule s .       Ackn o w l e dg ements   This work wa s su ppo rted i n  part by the National Natural Scie nce Found ation o f  China   (Grant No. 6 0976 028 a n d  61204 040 ), Beijing Muni cipal Natu ral S c ien c e F oun d a tion (G rant  No.  4123 092 ), and Advance d  Technolo g y  Foundat io n (Grant No . 002000 514 3120 04 an d  No.  0020 0051 431 1013 ).      Referen ces   [1]   David  Jon e s. T he  μ Curre nt A professio nal  precisi on curr e n t adapt er for Multimeters, 2 006; 1-1 9 [2]    L Lib i ou ll e, A Rade novic,  E B y stren o vá,  G  Dietler. Stud y   of Probe s and Su bstrates for Lo w   T e mperature A t omic F o rce M i crosco p y  an d Biol ogic a A ppl icatio ns.  Acta  Physica P o lonica A.  20 03;   104( 3- 4); 373- 380.   [3]    A Yu Kuz i n, P A  T odua, VI Panov, AI Ores hkin . R e co nstructed Si lic on  Survaces for   Cali brati on  of  Scann ing T unn el Microsco pes .   Measure m e n t T e chniq ues.  2 012; 55( 7): 773 -779.   [4]    F r ancesco F o r t i, Michael E. W r ight. Measu r ement  of MOS Current Mis m atch  in the W eak Inversio Regi on.  IEEE Journal of Solid- StateCircuits . 1994; 29( 2): 138 -142.   [5   P Po o k a i y audo m, A Wo ra p i sh e t, FJ L i d g e y ,  K H a y a tl e h ,  C  T o u m a z o u .  Me a s u r e m e n t  o f  ce l l  a n bacteri al  activi t y  us ing  arra y-base d  ISF E T  Chem ical  Cu rrent-Co n ve yor  in  w e ak- i nve r sion.  IE EE  Internatio na l Symp osi u on  Circuits a nd Sy stems.  20 12; 2 059- 206 2.   [6]    S Holt1, P Sk yba. Electromet ric direct  current I/V converter  w i th  w i de band w idth.  Revi e w  of Scientific  Instrum e nts . 2012; 83: 6 470 3 - 5.  [7]    Lei  Li n, Yu ank ai L i u, W a ng P i ng, F a n g  H o n g .  T he Electric  Vehic l Lithi u m  Batter y  Mo nito ring S y st em.  T E LKOMNIKA Indon esi an Jou r nal of Electric al Eng i ne eri ng.   2013; 1 1 (4): 2 247- 225 2.   [8]   Lin  W  ei, F u  Ch ang w e i.  R e searc h  o n   n A  Lev el  Curre nt M e a suri ng  Circu it a nd  Anti-Jammin g   T e chnolog y. Mi crona noe lecto n ic T e chn o lo gy 2008; 45( 7): 419-4 22.   [9]    Yinch uan  W u Baol ong  Guo,  Jiatia n Z h a ng,  Z heng gu o Ya n .  Stud y o n  D e fect Detecti ng  and  Loc atin g   Method of T ubular C y l i ndr ical  Cond uctor.  T E LKOMNIKA Indon esia n Jour nal of  Electrica l  Engin eer ing .   201 3; 11(6): 32 51-3 258.   [10]   MAX4 23 8/MAX4 23 9P, Ha n d book of MA X4 238/MA X4 23 9 P [11]    Cha o -Yan g Z h ou ab, Ho ng S u  a,  Rui-Sh i Mao a, Che ng-F u  Don g  a, Yi Qian a, Jie Ko ng . An accurate  lo w  c u rrent m easur ement ci rcuit fo r he av y ir on  beam  current mo nito r.  Nuclear Instruments and  Methods i n  Ph ysics Rese arch  B. 2012; 280:  84– 87.   [12]   Han dbo ok of MCP60 01/2/4.   [13]    CHEN Guo- jie,  XU Z h i-min g . T he design  of pr ogr ammab l e w e ak  curr ent  a m plifier bas ed on  ICL 765 0.   Journ a l o f F o shan U n ivers i ty ( Natural Sci e n c e Edit ion) . 2 0 01; 19 (4): 9-1 1 [14]    Yu Ha i- ya ng,  Yuan  Ru i-min g ,  W ang C han g -rui,  Du  Y u -l ei.   Overvie w  of Lo w  Curre nt Measur ement.  North Ch ina El ectric Po w e r. 2 006; 11: 5 1 -54.   [15]    She Qi ansh un,  Z hao  Ho ng yu n, Su  Hon g Ma  Xi a o l i , LI  Xi ao gan g. T he dev elo p me nt  of a l o n g -time  current inte grat ion d i gitiz e r.   Nucle a r T e chni q ues . 201 0; 33( 11): 867- 87 0.  [16]    Huil an  Hu an g, Li ng yu n W a n g , Yin h o n g  Da i, Da ohe ng  Su n.  W eak  Curr e n t Detecti o n  T e chn i qu e fo r   Electrostatic D r opl et Ejection .  Internation a W o rkshop o n  Intelli ge nt S y st ems and Ap pli c ations. 20 09;   1-5.     Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.