TELKOM NIKA , Vol.13, No .3, Septembe r 2015, pp. 8 13~819   ISSN: 1693-6 930,  accredited  A  by DIKTI, De cree No: 58/DIK T I/Kep/2013   DOI :  10.12928/TELKOMNIKA.v13i3.1426    813      Re cei v ed  Jan uary 15, 201 5 ;  Revi sed  Ap ril 24, 2015; Accepted Ma 15, 2015   Study and Design of 40 nW CMOS Temperature Sensor  for Space Applications       Abhish ek  Pa nde y * , Vija y  Nath   VLSI Desig n  L ab, Birla Institu t e of  T e c hnol o g y  Mesr a, Ran c hi Jhark han d Indi a 83 521 5   *Corres p o ndi n g  author, e-ma i l : a.p.bitmesra @gmai l .com       A b st r a ct   In  the prese n t study,  a nove l  CMOS  temper ature  s ensor  b a sed  on  su b-th resho l d MOS  o perati o n   has be en pre s ented, w h ich  is desig ned  for space  an d  satellite a ppl i c ations. The  prop osed CM OS  temp eratur e se nsor is  e nunc i a ted  a g o o d  l i n earity b e tw een  temper atures  rang e fro m  - 6 0 O C to 1 5 0 O C w i th   inacc u racy of -1.8 O C. T h is circuit is oper ated  at supply 1V  a nd static pow er  cons u m pti on 4 0nW  at 150 O C is  achi eved. T h circuit util i z e s  t he te mp eratur e de pe nde ncy  of thresho l d v o ltage  of MOSF ET , w h ich give tw o types of voltag e i n  out p u t, first voltag e pro porti ona l  to abs olute t e mper ature (P T A T )  and sec ond,   neg ative te mp erature c oeffici ent (NT C ). T h e s ens itivity of  both PT AT  a nd NT C  is 0. 1 639 0 m V/ o C an d   0.176 07 mV/ o C  respective ly b e tw een the sp ecifie d rang e -60  O C to 150  O C. This circuit is design ed  simulat ed us in g Ca denc e a n a lo g & di gita desi gn to ols U M C90 n m CMOS techno lo gy. T he lay out ar e a  of   the circuit is 17 .213 μ  6.655 μ m.    Ke y w ords C M OS;  comp le me ntary meta l oxid se mic o n ductor,  te mp er ature se nsor, P T AT , proportio nal t o   abso l ute te mp erature, NT C, neg ative te mp erature co effici ent, low  pow er       Copy right  ©  2015 Un ive r sita s Ah mad  Dah l an . All rig h t s r ese rved .       1.   Introduc tion   Tempe r atu r is very import ant physi cal  quantity  in ou r daily life. It  is appli ed in variou fields such a s  indust r ial, m edical, spa c e  and defe n se etc. In aircraft , the tempera t ure monito rin g   play importa nt role in fuel con s um ption, env iron mental co oli ng syste m s,  oil in hydraulic,   lubri c ating  system, fluid in cool ant, heati ng syst em s a nd avioni cs  systems [1]. Today it’s hea vy  deman d of th e CM OS tem peratu r e  sen s or du e to  use in th erm a manag eme n t. The  advanta g e   of CMOS b a se d efficien t temperatu r e sen s o r   is monitorin g   the st eady i n crea se of  heat  dissipatio n in  different sy stem. It is req u ired  to track the pro c e s s te mperature  and regul ate its  cooli ng fan.   Tempe r atu r e sen s o r s are commonly  divi ded  into  two type (a ): conv entional  sen s ors  (b ):  sma r t se nsors. The  conve n tional temp e r ature  sen s ors are havin g nume r ou s d r awb a cks wh e n   comp ared to  the  sma r t t e mpe r ature  sen s o r spe c ially ma nuf actured  in  CMOS technol ogy  con s umi ng m o re p o wer d u e  to the larg er a r ea, le ss accurate an d non -line a rit y  [2]. The smart   temperature  sen s o r  can  dire ctly com m unicate wi t h  a microco n trolle r / microp ro ce ssor i n  a   stand ard di gital format, result redu cing t he com p lexity and enha nce  the resp on se  of the system.    CMOS Sma r t temperature  sen s o r  ci rcuit  con s i s temp eratu r cell ci rcuit, its  sign al co nditionin g   circuit and A nalog to digit a l converter  [3]. In  silicon based MOS F ET t here i s  much property  whi c dep en ds  on te mpe r ature.  On th e  ba sis of lite r ature  re port, t he  sma r t tem peratu r e  sen s or  further d e si g ned in to (i) Parasiti c BJT based tem peratu r sen s or, (ii )  del a y -Inverter b a s ed  temperature  sen s o r , (iii) T h re shol d voltage tempe r at ure sen s o r CMOS te chn o logy is  use d  to re alize  parasiti c  BJTs  whi c h b a s ed  on late ral PNP  transi s to rs h a ve be en  re alize d    achie v e ch allen g e s   relate d to t e mpe r ature  sensi ng li ke  l e ss  accuracy, co nsumi ng mo re power, an d occupy in g a large a r ea.  Now  CMOS  technol ogy is  gro w ing  and  semi con d u c tor ind u st ry a dopted thi s  t e ch nolo g y fre quently du e to low fa bri c at ion  co st and ea sy fabrication  pro c e ss. Th e  temperatu r e - sen s in g accu racy of BJT s   is limited by the   effect  of  thei r saturation cu rrent (I S ), which can l ead  to  errors of   a fe w d egree s. B u t this  erro can  be red u ced ±0.1 by using t he cali bratio n  [4-7]. Since for re du cing t he ina c cura cy, the calibrat i on  techni que i s   need ed, but  this in crease s  the  co st  o f  the system . The bip o lar techn o logy i s   comp atible  with tempe r ature sen s in g system s. It was also  much mo re accurate than   Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                          ISSN: 16 93-6 930   TELKOM NIKA   Vol. 13, No. 3, September 20 15 :  813 – 819   814 conve n tional  tempe r atu r e  se nsor. B u t there a r e   use  at l east  two  PNP t r ansi s tors,  re sult  incr ea se s t h e  size of  t he c h ip.   Propa gation  delay-b ased temperature  sen s o r  i s  d e sig ned  on  the con c ept  of the   prop agatio n delay of inverters. Delay lin e based temp eratu r e sen s or con s ume s   less po wer th an  a parasiti c  B J T s  tempe r at ure  sen s o r The del ay is  a functio n  o f  temperatu r e  for this type  of  sen s o r . For the digitizatio n  we nee d time to digi tal conve r ter. Su bse que ntly, the output pul se is  fed to the inp u t of a cy clic  Time-to - Di gital Co nv erte r (TDC) to g ene rate the  co rre s po ndin g  digi tal   [8-10]. The same tech niq ue ca n be al so be impl e m ented in a nother  way b y  measu r ing  the  variation i n  f r equency of  oscilla tion caused by vari ation in  tem perature. The  frequency is  inversely p r o portion al to t e mpe r ature  becau se  th e  de cre a se in  the mo bility is th e d o mi nant  feature [1 1-1 2 ]. Both of these  kin d s of  sen s o r re qui re a l a rger  ch ip area a nd p r odu ce difficulty  in attaining lin earity for the highe r ra nge.    To overcome  the limitation of CMOS techn o logie s  in  various tem peratu r sen s ors (as  discu s sed ab ove), we o p te d thre shold v o ltage, temp e r ature se nsor with for  the a pplication in the  avionic  syste m , owing to  good a c cu ra cy with  mini mum po we r con s um ption.  The tempe r ature   sen s o r s ba sed on th e t h re shol d voltage of M O S F ETs a r known for th eir lo we r po wer  con s um ption  and  smalle die area [13 - 16]. The voltage o r  curre n t across M O SFETs i s  al ways  varies  with th e temperature, but the ch alleng is de signi ng the s e  types of sen s ors i s  accu racy.   Becau s e lin e a rize this vari ation is a diffi cult ta sk. Thi s  task is a ccomplished by  prop er  sele ction   of circuit arch itecture  and a d justin g the W/L ratio  of the tran sist ors used  so that  the non-li nea rity  can b e  red u ced.   The rest  of this p ape r h a s  be en o r g a n i zed  as foll o w s. T he  cha r acteri stic of  MOSFET   operating  in  Basic Pri n ci p l e of M O SF ET ba sed   te mperature  sensor  is  giv en in  Se ctio n II.  Section III describes the  methodol ogy  and architec ture of the proposed tem perature  sensor  circuit. The  simulation result and di scu ssi on ha s b e en su mma rized in Sectio n  IV. Finally, the   conclusion of the overall paper  is illustrated in Section  V.      2. Basic  Princi ple  The  small  si g nal a nalysi s  t he  squ a re  la w of  mod e l i s  not lo nge h o lds true.  Th erefo r e,  we cann ot negle c t the se con d  ord e r e ffect. The se con d  ord e r e ffect will cau s e tempe r atu r e   nonlin earity.   On  chip th ermal sen s ing  demon strates   seve ral d e g r ee Celsi u s te mperature  errors [16]   due to n onlin earity.  For  short chan nel  device s the  effect of velo city saturatio n  and m obility  degradatio n o n  the drain  cu rre nt in the sa turation regio n  [17-20] is d e fined a s    DSn Tn GSn V V V 0    sat Tn GSn ox n D lV V V l w c I 2 1 2                                             (1)     Whe r e,   GSn V = Gate  Sou r ce voltag DSn V Drai n Sou r ce  voltage  Tn V =Th r esh o ld voltag D I drain  curre n t of MOS transistor  n = mobility of N-type material  ox c = oxide capa citan c w = ch ann el wi dth of MOS transi s tor  l = ch annel le ngth  of MOS transistor  sat V n E = s m / 10 7  c o ns tant s a t u ration veloc i ty  = fitting parameter  1 7 / 10 V t ox                    The d r ain  cu rrent i s  temp e r ature de pen den ce  of  CM OS tran sisto r  dire ctly. Since d r ai curre n t de pe nds up on the  thre shol d vo ltage a nd the  mobility. Th e thre sh old v o ltage  depe n d upon temp erature a s  sh o w n in eq uatio n (2-3):- [21 - 2 2 ].    Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
TELKOM NIKA   ISSN:  1693-6 930       Study and  De sign of 40 n W  CMOS Tem peratu r e Sen s or for Spa c e  (Abhi she k   Pande y)  815 Whe r F SB F to t V V V 2 2                                  (2)  And,    ox F SUB si F FB SB t to c N q V V V V 2 2 2 ) 0 (                 (3)      Whe r e,   Bulk Th re sho l d Voltage,  F Strong Inversi on Surfa c e P o tential,  FB V =Fla t Band   Voltage,  SS Q Oxid e-cha r ge = SS qN k  B o lt zman n’s  con s t ant ,   T Temperature (K ),   i n  Intrins i c  c a rrier c o ncentration.              0 0 T T k T V T V                                                                      (4)    From Eq uation (4 ) it is  proved th at Thre sh old vo ltage de crea se s with in crea sing   temperature   hen ce th e d r ain  curre n t in cre a se. Th er efore  the  drai n current i n creases.  Thi s  i s  the   reverse d epe nden ce.    In MOS device mo bility is impo rtant  para m et ers t hat are  pre d o minantly se nsitive to   temperature.  Theo retically Mobility of th e carr ie r in the cha nnel  ca n be define d  as [23-24].      k T T T T 0 0 ). (                                                                           (5)\                                              Whe r e,   0 T   = Refe ren c temperature  T  = Absolute temperature      Whe r k  = co nstant val ue  betwe en  -1.2  and  2. 42  around  ro om te mperature,  causi n g   the mobility  decrea s by about h a lf a pe rcent  pe r de gre e . Th e expression  for the  cha nne l   mobility can  be furthe r co mplicate d  by introdu ci n g  velocity satu ra tion and mob ility degradati on.   This word m eans that the mobilit y at t he  reference  temperature ) ( 0 T   depe nd s u p o n  the  bias voltag and the threshold voltage.  As tempe r atu r e in cre a ses,  the ca rrie r  m obility decrea s e s   and re sultin g drain  cu rre nt decrea s e s . T h is is the n o rmal depe nde nce.   Thre sh old Vo ltage variatio n with the temperature       3. Proposed  Circuit  The  sch emat ic dia g ra m o f  temperatu r e se ns or  circuit is  sh own in Figu re  1. The   prop osed  circuit i s  ma de  by 4  NMO S  and  3 PM OS  tran si stors. Since  in  NMOS  t r an si stor,   mobility is hi gher th an the  PMOS, therefore it is   wo rkin g a s  bett e r switch and  PMOS work as  better loa d . The loa d  is  workin g a s  a re sista n ce  and the re sista n ce is d i rectly rel a te d to  temperature.  The both o u tput PTAT an d NT C volt ag es have b e e n  extracte d. In the pro p o s ed   desi gn the  transi s tors PM 1, PM2 an PM3 a c t as  active loa d whi c h fo rm t he  current  m i rro r   throug h tran sistors PM 3,  PM2 an d PM 1. Fro m  e q u a tion  (6) it i s  cle a r that th e a s pe ct  rati o of  PM2 an d PM 3 de cid ed th e  natu r of te mperatur e  vs voltage. Sin c e PM2  and  P M 3 form  current  mirro r the r efo r e the  aspe ct ratio of PM 2  and PM 3 sh ould b e   sam e . This  sa me  cu rre nt mirror  help s  in o b tai n ing the volta ge du e to diff eren ce  in   current flo w . The  W/L ratios  of the tran si stors  config ure d  as active re sisto r s a r e al so su itabl y adjuste d for linea riza tion of the output voltages.   The  tra n si sto r s NM1 and NM2  a nd NM 3,  NM4  a r e i m porta nt in term s of controlling the   NTC o u tput voltage ra nge  with re spe c t to the  temperature range.  This outp u t voltage ra nge  is   given by the   W/L ratios of  these  tra n si stors. F r om  eq uation  (7) it i s   clea r that t he  NTC volta g e   depe nd s up on the aspe ct ratio of tran sisto r  NM 1 and NM 2. For co ntroll ing the po wer  con s um ption  of the ci rcuit  the  tran si stor NM3  and  NM4 are very i m porta nt. Th e bia s ing  cu rrent  sho u ld be o p timized p r o perly becau se it not only  limits the powe r  co nsum ption of  the circuit, bu also d e fine s the upp er limit  of t he temperature to be sensed [15].     Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                          ISSN: 16 93-6 930   TELKOM NIKA   Vol. 13, No. 3, September 20 15 :  813 – 819   816     Figure 1. Circuit diagra m  of CMOS Temp eratu r e Sen s or Cell       T N P P T PTAT V k V V 1 12 23 23 2 3 1           (6)     T N P N T NTC V k V V 2 12 23 12 3 2 1           (7)     Whe r 3 3 2 2 23 P P P P P L W L W     Whe r e   2 2 1 1 12 N N N N N L W L W       4.  Simulation Result &  Disc ussion   The propo se d temperat ure sen s o r  circuit ha s be en simul a ted  in Analog De sign   Environme n of Ca den ce  u s ing  UMC9 0n m library. Thi s   circuit  uses a 1V  supply.  The  PTAT a n d   NTC charact e risti c s have  been  extra c ted from  th e  circuit. Th e  pro p o s ed  ci rcuit  ha s be en  desi gne d for  sen s in g temp eratu r e fro m  -60 o C to 150 o C and  sho w s a go od lin earity betwee n   these  ra nge s. The PTAT  voltage giv e s a n  outp u t voltage of  384.51 987m V at -60 o C and  418.93 929  at  150 o C. The  sensitivity for V PT AT  is 0.1 6390mV/ o C. The NT vol t age sho w s an  output voltag e of 6 75.44 5 97mV to  639 . 35949mV  for the tem perature  ra nge  of  -60 o C to  150 o respe c tively with a  sen s itivity of 0.1760 7mV/ o C. Both  V PT AT  an d V NT C  cu rves  ha bee n sho w n  in  Figure 2(a ) .   The maximu m deviation from a c tual value  at any given temperature in between the   spe c ified ran ge of the sensor is  kn own a s   ina c curacy of a n y temperat ure sen s o r . The  inaccu ra cy of NTC voltage  in a specifie d rang e of the prop osed sensor is -1.8 o C re spe c tiv e l y The erro r of NTC  sh ows  better than  t he PTAT. The error  curve s  for V NT C  are given in Fi gure   2(b ) The circuit h a s bee n sim u lated at  different   process co rne r to get  the wo rst  ope ratin g   con d ition s . In semi con d u c tor p r odu ct m anufa c turin g , a pro c e s s corne r  meth od  is used for I C   fabrication of  semi con d u c tor wafers. In pro c e ss  co rner i s  nami n g conve n tion  for to use t w o- Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
TELKOM NIKA   ISSN:  1693-6 930       Study and  De sign of 40 n W  CMOS Tem peratu r e Sen s or for Spa c e  (Abhi she k   Pande y)  817 letter, beca u se two types o f  MOSFET used in  CMOS  technol ogy: namely NM O S  for n-ch ann el  and PM OS fo r p - chan nel.  On b ehalf  of t he m obility  of  MOS tran sist or th ere  a r e t h ree  type  co rner  rule s: (i) typical (t), (ii) fast  (f) and (iii ) sl ow(s), whi c h use d  fast  and  slow for  carri e r mobility that  is hi ghe and  lower than  n o rmal,  re sp ectively. There   are  five p r o c ess  co rne r s [ 25] a r e i n volved  to simul a ted  my proposed circuit  namely: (i) typica l-typical (tt),  (ii )  fast -f ast (ff),  (iii)  slow-slow  (ss), (iv) fast -slow (fnsp), and (v ) slow-fast (snfp). The (i) to ( iii) is called even  corners because  both types  of device s  a ffected same , hence t here are  no a d verse effect  of the logi cal   corre c tne s of the  circuit .  This me an s the  dev i c e s  can   op erate  at slo w e r  or  fa ster clo c freque nci e s.  The last two  pro c e ss  corn ers a r e calle d as ske w ed  corn er an d come to con c ern  corners.  That  is  why i n  the MOSFET,  NMOS  w ill  switch much faster  than the PMOS. Thi s   rep r e s ent i m balan ce d switchi ng ca n cau s e   on e dge  of the  ou tput to have   a mu ch  le ss  sle w   than the oth e r edg e. The  Figure 3 ( a)  & Figure 3 ( b )  sho w s the simulate d re sult at different  pro c e ss  co rn er of PTAT and NT C re sp ectively.            Figure 2(a ) . Output Voltag e of Senso r  with  variation of T e mpe r ature   Figure 2(b ) . V NT C  Erro r of temperature  cel l           Figure 3(a ) . T e mpe r ature vs Voltage g r a ph at  different process co rne r  in  UMC 9 0nm  techn o logy of  VPTAT CMOS Temperature  Senso r   Figure 3(b ) .T empe rature vs Voltage g r a ph at  different process co rne r  in  UMC 9 0nm  techn o logy of  VNTC CMO S  Temperature  Senso r       Since po wer con s um ption of  any  CMO S   circui t in creases with i n cre a si ng tem peratu r e.  The ci rcuit draws 40nA  cu rrent from  the  circuit, whi c is sh own in  Fi gure  4. There f ore the ove r all  resultant po wer dissip ation  of t he propo sed se nsor is  40n W at 150 o C.  The layo ut o f  prop osed  circuit i s   sh o w n i n  Fig u re  5. The  layo ut are a  of th e cell is  17.213 μ 6.655 μ m. The  desi gne d layout of the cell is fina lly checked with DRC, it is fully error  free and fully matche d with  LVS.  In Table  1 the  pro p o s ed  te mperature  se nso r  h a s be e n  compa r ed   with recent  works. T h e   Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                          ISSN: 16 93-6 930   TELKOM NIKA   Vol. 13, No. 3, September 20 15 :  813 – 819   818 V NT C  from the  desi gne d se nso r  i s  cho s e n  for  comp ari s on  as it p r o d u ce s b e tter result tha n  V PT AT From th e tab l e it ca n be   see n  that the  power  dissip ation an d ina c cura cy i s  be tter than oth e r   result, while t he tem peratu r ran ge i s  q u ite la rge.  Th ina c cu racy  incr ea se s wit h   r ang e.   B u t ,  t h prop osed de sign maintain s the inaccura cy in che c k, well withi n  -1. 8 o C.           Figure 4. Dra w n current fro m  powe r  sup p ly of CMOS Tempe r atu r Senso r  Cell     Table 1. Perf orma nce Summary & Co mpari s o n  of propo se d temp eratu r e sen s o r  with re ce nt  wor k s   Parameter  [12]  [15]  [26]  This  w o rk  Technolog 1 µm  90 nm   180 nm   90 nm   Power Suppl   1 V  1 V  0.6–2.5 V   1 V  Temper ature  Ra nge()   +10 to +100 o C   -60 to 150  o C +1 0 to120 o C - 6 0   to150  o Inaccurac y  w i th Temper ature   +1  o C  ±1.3  o C ± 2 o C - 1 . 8  o Power Co nsumpt ion   100 µW  862 nW  7 nW at 0.6V   40 nW  Circuit Area  0.002 mm 2  114.55  µm 2           Figure 5. Layout of Propo sed Temp erat ure Sen s o r  Cell      5. Conclu sion   The  circuit  de sign ed  and  si mulated  u s in g cade nce a n a log  and  digit a l sy stem  de sign tool   UMC90 nm t e chnology. The temperature sensor  circuit presented in th is paper utilizes the  variation in t h re shol d voltage  with tem peratu r e to  p r odu ce PTA T  and  NTC vol t age si gnal.  The  NTC voltage  prod uces bett e r result in te rms  of  a c curacy for th e d e sig ned  se nsor. Mo reove r   the  circuit sen s e s  for tempe r at ure  ran ge of  -60 o C to 15 0 o C, whi c h i s   sprea d  ove r  2 10 de gre e s.  The  accuracy  of the  circuit i s  a l so  quite g o o d  in  spe c ified  ran ge  of te mperature  ra nge.  T he l a yout  area of this  circuit is 17. 213 μ 6.655 μ m and its powe r  dissi pation is 40 nW. Since t h e   prop osed   se nso r  se nses  for a wide sp read ra nge   of   tempe r atu r e with satisfa c t o ry  a c curacy  the   sen s o r  ca n find its appli c at ion in military and ae ro spa c e appli c ation s     Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
TELKOM NIKA   ISSN:  1693-6 930       Study and  De sign of 40 n W  CMOS Tem peratu r e Sen s or for Spa c e  (Abhi she k   Pande y)  819 Referen ces   [1]    A Pand e y , D  Yadav, R  Sin g h , Vija Nath.  Desig n  of  ultra  lo w   po w e r C M OS temperat ure se nsor fo r   space a p p licati on.  IJAREEIE.   201 3; 2(8): 411 7-41 25.   [2]    Martinez  Brito,  Jua n  Pa bl o, A liai n  R a b a cijs.  CMOS Smart  T e mp eratur e s ensor  for RF ID  ap plic atio n.   26th S y mpos iu m on Integrate d  Circu its a nd  S y stems Des i g n  (SBCCI).   Curitiba. 20 13:   1-6 .   [3]    Bakker A, Huijsing J. Micropo w er CMOS  te mperatur e sen s or  w i t h  di gital  output.  IEEE Journal Solid  State Circuits.  199 6: 933- 937.   [4]    Andre  L Aita,  Michie l AP P e r t ijs, et al. L o w   Po w e CMOS Smart T e mperature S ensor  w i t h  a  batch - calibr a ted  of in accurac y  of ± 0 .25 O  C (±3 σ ) from -70  O  C to 13 0 O  C IEEE Sensors Jour nal.  201 3;  13(5):   184 0-18 48.   [5]    MAP Pertijs, KAA Golam Cho w dhu r y , A  Hassibi. An On-chip T e mperature sensor   w i t h  a self - Dischar gi ng Di ode i n  32-nm  SOI CMOS.  IE EE transactions on circuits and system s.  20 1 2 ; 59(9): 5 6 8 - 57 2.   [6]    MAP Pertijs, K AA Maki n w a,   JH H u ijsi ng. A  CMOS smart  temperatur e s ensor   w i th  3 σ  i n a c cu r a cy  of  ±0.1 O C from -55 O C to 125  O C.  IEEE J. Solid- S tate Circuits . 200 5; 40(1 2 ): 2805- 281 5.   [7]    Kamran S our i, et al. A CMOS  T e mperature  Sens or  w i th a Voltag e-Ca libr a ted  In accurac y  of  ±0.1 5 O  C  (3 σ ) F r om 55  O   C to 125  O  C.  IEEE Journal of  Solid-State Cir c uits . 2013; 4 8 ( 1): 2 9 2 -30 1 .   [8]    P Chen, C C  Che n , CC T s a i , W F  Lu. A ti me-t o-di gital c onverter- base d  CMOS smart temperatur e   sensor.  IEEE J. Solid-State Circuits . 2005; 4 0 (4): 164 2-1 6 4 8 .   [9]    P Chen, CC  C hen, T K  Chen, SW  Chen.  A time do main  mi xed- mo de te mperatur e sens o r  w i th digital   set-poi nt progr amming . IEEE Custom Integr ation. Circ u its C onfer ence. S an Jose. 2 006:  821-8 24.   [10]    K W oo, et al .   Dual-D LL- bas ed CMOS all- digit a l te mper ature sens or for micr oproc e ssor therma l   mo nitori ng . IEEE International confer enc e Solid-State  Ci rcuits Conference - Digest of  T e chnical  Papers, ISSCC .  San F r ancisc o , CA. 2009: 6 8 -69.    [11]    Kisso K i m, et  al.  36 6Ks/s  1.09-nJ  0.0 0 1 3 mm 2  F r equ e n c y  to  Di gital  Co nverter  b a sed  CMOS   T e mperature Sensor Uti lizi ng Multip hase  C l o ck.  IEEE Tran sactions on Very Large Sc ale Integratio (VLSI).  2012; 2 1 (10):   19 50- 19 54.   [12]    Se w o ok H w a n g , Jabeom Ko o, et al. A 0.0 08 mm 2  500µ W  469 kS/s F r equ enc y-to-D ig ital Conv erter   Based  CMOS  T e mperature   Sensor   w i th  P r ocess V a riati on  Comp ens ation.  IEEE  Transactions  on  Circuits and Sy stem s Journal . 201 3; 60(9): 22 41-2 248.   [13]    V Szekel y,  Cs  Marta, Z s  Ko hari, M R encz.  CMOS Sens o r s for On-Lin T hermal Monit o rin g  of VLSI  Circuits.  IEEE Trans. Very Large Scale Integration System s . 1997; 5(3): 27 0-27 6.  [14]    M Sasaki, M Ikeda, K Asad a. A  T e mperature  Sensor   w i t h  a n  Inaccur a c y   o f  -1/+ 0.8°C using 90 nm 1- V   CMOS for Onl i ne  T hermal M onitor i ng  of V L SI Circuits.  IE EE T r ans. Se mic o n ductor M anufactur i n g 200 8; 21(2): 20 1-20 8.  [15]    Uen o  K, As a i  T ,  Amemi y a Y.  Lo w - po w e r te m perat ure-to-freq uen c y  c onv erter  cons isting  o f   subthres hol CMOS circuits for int egrate d  smart temperature sens ors.  Sensors a n d  Actuators A   Physical.  201 1; 165: 13 2-13 7.  [16]    Subhr a C hakr a bort y Abh i sh e k  Pan d e y , Vi ja Nath.  A  CMO S  T e mper ature  Sens or w i th 6 0 o C to  150 o Sensi ng  Ran g e  a nd ± 1 .3 o C I naccur a cy.  IEEE International conference  on innovations  in  information  embe dde d an d  communic a tio n  s y stems-2 0 1 5  (ICIIECS). C o imb a tore. 20 1 5 [17]    Basab D a tta. On Chip th er mal sens in g i n  de ep su bmi c ron CMOS. Masters T heses. Amherst:  Univers i t y   of Massach usetts; 200 7.  [18]    Phill ip E All en,  Dou g las R  Ho l berg. CMOS a nal og circu i t de sign. 3 rd  Edition. Ox ford: Ox f o rd Universit y   press. 200 4: 7 2 -15 9 [19]    Behaz ad R a za vi Desi gn  of Anal og CMOS I n tegrate d  circ u i ts. Ne w  York:  T a ta McGra w - Hill P u b lish i n g   Comp an y Lim i ted. 200 2.   [20]    DA Puckn ell,  Kamran Es hr a ghi an. Bas i c V L SI Desi gn. 3 rd  Edition.  Ne w  Del h i: Pre n tic e -Hal l of In di a   Private Lim i ted .  2008.   [21]    V Nath, LK Sin gh, KS Yadav.  Desig n  an d De ve lo pment of C M OS Bandg ap  Voltage R e fer ence C i rcuit   in VLSI.  Internation a l Jo urna l of System ics,  Cyber netics an d Informatics.  200 7; 2: 71-75.   [22]    Vija y Nat h , KS Yadav, LK  Singh.  Mod e ling, Si mulati o n  and L a yo ut Desig n  of CMOS Signal   Con d itio nin g  C i r cuit w i th M/NEMS Sensors  in  VLSI.  16 th  Nati ona l Semi nar o n  Ph ysics & T e chno log y   of   Sensors (NSP T S 16) organiz ed b y  De partm ent of Ph y s ics, Univers i t y   of Luckno w , Ind i a.  201 1.  [23]    J Altet, et al.  Sensi ng te mp er ature i n  CMOS circuits for the r ma l testing . Pr ocee din g  of 2 2 nd  IEEE VLSI  test sy m pos iu m. 2004: 17 9-1 8 4   [24]    Eran Soc her, S a lom on Mic hel  Beer, Yae l  Ne i m ir ovsk y .  T e mperatur e sens itiv e of SOI-CMOS transistor  for use in unc o o le d thermal s ensi ng.  IEEE tr ansaction on electron dev ices.   2005;   5 2 (12): 278 4-27 90.   [25]    Weste Ne il  HE , Harris  Davi d.  CMOS VLSI D e sig n : A C i rcui ts and  S y stem s Persp e ctive.  3rd E d . Ne w   Delh i: Prentice - Hall of Ind i a P r ivate Limit ed. 200 5.  [26]   Ali  Sa ha , Jaf a r Sob h i, Z i a d d in  Dai e  Ko oz ehka n a n i. Na n o  W a tt CMOS temperatur e s ensor.  An al og  Integrated C i rc uit Sign al Proc essin g .  201 3; 75: 343-3 48.      Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.