Internati o nal  Journal of Ele c trical   and Computer  Engineering  (IJE CE)  Vol .   5 ,  No . 3,  J une   2 0 1 5 ,  pp . 52 5~ 53 0   I S SN : 208 8-8 7 0 8           5 25     Jo urn a l  h o me pa ge : h ttp ://iaesjo u r na l.com/ o n lin e/ind e x.ph p / IJECE  Modelling Electr onic Characteri stic of InP/InGaAs Double  Het e r o ju nction B i polar   T r ansist or      Berrichi Yami na 1 , Ghaffour Kherreddine 2   1 F acult y of  S c i e nce,   Univers i t y  of  Tlem c e Alg e ria      2 Facu lty   of  T echnolog y ,  Univ er sity  of  Tlemcen Algeria      Article Info    A B STRAC T Article histo r y:  Received Feb 24, 2015  Rev i sed  Ap 10 , 20 15  Accepted Apr 27, 2015      In this paper,  we are int e rest ed in  stud y i ng  InP/InGaAs h e tero junction   bipolar  transisto r  NPN ty p e . First a nd for most we should describe  th structure of our  simulation, th en, we  ploted  at  room  tem p erature: Ene r g y   band diagram,  Gummel plot, I C- V C  character i stic and condu ction bands for  differen t  valu es of V BE . The simulation of  this structure h a s dem onstrated t h e   validity  of  our m odel  and  the method of th e simulation .   Keyword:  Hetero jun c tio n   InP/ In Ga As   NP N   Transistor    Copyright ©  201 5 Institut e  o f   Ad vanced  Engin eer ing and S c i e nce.  All rights re se rve d Co rresp ond i ng  Autho r Berrichi Yam i na   Facu lty of Scien ce,  Un iv er sity of  Tlem cen  Al geria   Em a il: a m in a2 0 102 71@yahoo .fr      1.   INTRODUCTION   The  use  o f   he t e ro ju nct i o n t o  im pro v e t h per f o r m a nce o f  sem i cond uct o r  de vi ces i s   not  a   new   co n c ep t; it was first sug g e sted  b y   W illia m  Sh o c k l ey  in  1 951 . At th at ti m e , h o w ev er, semico nd u c t o t echn o l o gy  wa s n o t   devel ope d t o  t h p o i n t   whe r e s u c h   no vel  co nce p t s  c oul be ac hi ev ed i n  t h e l a b o r a t o ry  [ 1 ] .       At th n a m e  su gg ests, th semico n d u c tor h e tero j u n c tion  is an  i d ealized  in terface  b e tween  two   sem i cond uct o r s . Fo r de vi ce  appl i cat i on s u ch a n  i n t e r f a ce has t o  be  free  of c ont a m i n ant s  and t h e t w o   semico n d u c tors  m u st g e n e rally b e  lattice   match e d  so  th at   n o   d i stortio n   of th e ep itax i al  layers o ccurs to  g i v e   rise un wan t ed   d e fects  with in   th e layer. In  these v e ry sp ecial circum stance s, the ba nd dia g ram s  of the se parat e   m a t e ri al s can be j o i n e d  c ont i n u o u s l y  an en gi nee r ed t o  p r od uce s o m e  desi red  het e r o j u nct i on  be havi o u rT hi new  de vel o pm ent  has  bee n  ca l l e d ‘ba n d ga engi neeri n g  a nd  has  pr o v i d e d  a v e hi cl e f o a new  u n d e rst a ndi n g   of sem i conduct o r interface  physics [1].      The pe rf orm a nce adva nt age o f  HB Ts i s  pri m ari l y  deri ved f r o m   t h e use of  wi de ba n dga em i t t e rs. If   th e em it ter b a n d g a p  is larg er th an  'th a t in  th e base  for an   n - p - n HBT,  th e bandg ap d i scon tin u ity set s  up  a  b a rrier t o  th e fo rward  i n j e ction   o f  electron s resu lting  i n  a  h i gh er tu rn-on   v o ltag e  for th e emitter-b ase  dio d e M o re i m port a n t l y , ho we ver,  t h i s   di sco n t i n ui t y  pr ovi des  b a rrier t o  t h e rev e rse inj ection   o f  ho les  from   th b a se i n to  t h e emit ter, in creasin g inj ection  efficien cy  γ , si gni fi cant l y , as m odel e by  E q uat i on  ( 1 [ 2 ] :     γ N N ex p ∆E kT   (1 )     Th e i n tro d u c tio n of an   wid e -g ap  em itter an d co llector t o   form  a d oub le heteroju n c tio n   b i po lar  t r ansi st o r   (D H B T)  of fers  sev e ral   a dva nt age s  o v er  H o m o ju nct i o n  B i p o l a Tran si st ors  [ 3 ] :   -   Hig h er   f T  and  f ma x  characterist i Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                        I S SN 2 088 -87 08  IJEC E V o l .  5, No . 3,  J u ne 2 0 1 5   :    52 5 – 5 3 0   52 6 -   increase d  brea kdown  voltage   -   bet t e r per f o r m a nce un de sat u rat i o n o p erat i o n   M a ny  para m e t e rs  Th e obj ectiv e o f  th is  p a p e r is to  estab lish  th e m o d e l an d   p r actical ap p lication  of th m e th o d   devel ope d  f o r   descri bi n g  el e c t r o n i c  cha r act eri s t i c s o f  I n P / In GaAs  d o ubl e het e r o ju nct i o bi p o l a r t r ans i st or   an d Fu ture  d e velo p m en t o f  th i s  wo rk   will ex t r act th e m a x i mu m  an d  tran sitio n frequ e n c ies.       2.   CIR C I U T DI AG RA M OF HBT  MO DEL   Fi gu re  1 s h ows  t h e sc hem a t i c   fo r t h e  ci rc ui t  di ag ram  of HB T m odel .           Figu re  1.  Circu it diagram  fo HBT  [3]       The electron c u rrent  injected from  the em itter I nE  t o  t h base and the  hole curre n t I pE  i n jecte d   from  th e b a se to  t h e emitter. Fo r an   HBT,  on ly I nE  con t ributes to  th e co llecto r  cu rren t (ou t pu t cu rrent).  si gni fi ca nt  a d v a nt age  o f  t h e   HB ove r t h e  h o m o ju nct i o n   BJT is t h at the  pote n tial barrier for electrons is   sm a ller th an  t h e po ten tial b a rrier fo r ho les, lead ing  to an  HB T injection efficiency th at is clo s e to un ity [4].  Id eally, on ly th e electron s  i n j ected  in t o  the b a se con s titu te th e em i tter cu rren t an d  t h at all th ese  electrons a r collected at the coll ector.  We recover the  classical rela t i ons hi p bet w ee n t h e t h ree c u rre nt transistor [5]:    I I I   2       3.   R E SEARC H M ETHOD    Years  of r e sea r ch i n t o  de vi ce  phy si cs ha ve  resul t e d i n  a m a t h em at i c al   m odel  t h at  operat e s o n  any   sem i cond uct o r  de vi ce  [6] .  T h e m odel  c o n s i s t s  of  a set  o f  f u nd am ent a l eq uat i o ns  w h i c h l i n k t o get h er t h electro static p o t en tial an d  the carrier d e n s it ies, with in  some si m u la tio n  d o m ain .  Th ese eq u a tion s which  are  sol v e d  i n si de a n y  ge neral  p u r pos e de vi ce si m u l a t o r,  have  been  deri ve d f r om  M a xwel l s l a ws an d co n s i s t  of  Po isso n’s Equatio n  th e con tin u ity eq u a ti o n s an d  th e tran sp ort equ a tio n s   Po isso n’s Equatio n  relates v a riatio ns  in  electro static p o t en tial to  lo cal ch arg e   d e n s i ties. Th e co n t i n u ity an d  th e tran sp ort eq u a ti o n s   d e scri b e  the way   th at th e electro n  an d   ho le den s ities ev o l v e  as a resu lt of tran spo r t pro cesses,  g e n e ratio n  pro c esses, and   recom b ination processes .   Differen t  co m b in ation s   o f  m o d e ls  will req u ire so l v in g  up  t h e eq u a tion s   of th e tran spo r t, th e sim p lest   m o d e l is  «  t h e   dri f t   di f f u s i o n t r ans p ort  m odel  »  [ 7 ] .   Drift - d i ffu sion th eo ry to  calcu late  carrier trans p ort over  a hetero ju n c tion ,  in  th ese m o d e l cu rrent   exp r essi ons  f o r  el ect ro ns a n d   hol es  de nset i e s  i s  gi ven  by :     J q n μ E q D dn d   (3 )     J q p μ E q D dp d   (4 )     Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
I J ECE   I S SN 208 8-8 7 0 8       Mo del l i ng el ec t r oni c c h aract e ri st i c  of  I n P/ I n Ga As  do u b l e  h e t e roj u nct i o n  b i pol a r  t r a n si st or   (B.  Yam i na 52 7 Whe r q is us ed to i ndicate  the abs o lu te  valu e of th e electron ic ch arg e (E) is m o b i l ity an d  D is  diffusi o n coe f ficient.  Th e (3 ), (4 ) equ a tio ns to  b e  so lv ed  are Po isso n ' s equ a tion  an d  t h e current co n tinu ity eq u a tio ns for  electrons  and  holes.  Co n tinu ity equatio n s  are:    ∂n ∂ 1 q ∙ J U   (5 )     ∂p ∂ 1 q ∙J U   (6 )     Poi s s on' s eq uat i on i s :     ∙       (7 )     Equ a tio n   (3 ) t h rou g h  (7) constitu te a syste m  o f  fi v e  equ a tio n s  in   fiv e   un kno wn (n, p, J n , J p  and  V)  an d   g i v e n  ap prop riate bou ndary con d ition s , can  b e   u s ed  t o  an alyze th carrier con cen t r atio n s , currents and  fields in a n  a r bitrary  de vice  structure.Howe ver,  we al so   need  to sp ecify  th e o t h e r p a rameters (m o b ili ty, n e reco m b in atio n   rate, ect) an d ho w t h ey d e p e nd  on  t h e m a ter i al p r op erties,  carrier  d e n s ities and  lo cal  p o t en tial  and field.  The  res o l u t i o n  of  t h e a b ov equat i o ns  ha ve  base on  t h m e sh, t r eat m e nt  o f  m e sh p o i nt s f o r t h e   cont i n ui t y  eq u a t i ons at  a  het e ro j unct i o ns i s  s o l v e d   by  t h N e wt o n  m e t hod.       4.   R E SU LTS AN D ANA LY SIS    4. 1. Stru cture  of   Si mul a ti o n   The  layer struc t ure of  the InP ̸  In GaA s   DHBT  is sh o w n  in  Figu re  2.           Fi gu re 2.   St r u c t ure  of  I n P  /  I n GaAs  d o ubl e  h e t e ro ju nct i o b i pol ar  t r an si st o r       As s h ow o n  t a bl e I ,  t h e  t r a n si st or c o nsi s t s   of    0, 12 5µm  thi c 10 19 cm -3     n- In P  em i t t er 0, 09µm   th ick 3 × 10 18  cm -3     p - I n Ga As  base,  0, 1µm   t h i c k  4×1 0 17  cm -3     n-   In P  su b - c o l l ect or  a n d   0, 49 4 4 µm  t h i c 8×1 0 18   cm -3   n- InP   col l ector     Tabl 1. T h e  p a ram e t r e deffi n i t i on   of  m e sh and  d o p i n g   E l ectr odes              Dopage ( c m -3 T h ickness ( µ m )        E m itte (InP)    6×10 19 0. 125   Base  (InGaAs)       3×10 18 0. 090   Sub- Collector   (In P)      Cllector  (I nP)      4×10 17     8×10 18   0. 100     0. 4944       Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                        I S SN 2 088 -87 08  IJEC E V o l .  5, No . 3,  J u ne 2 0 1 5   :    52 5 – 5 3 0   52 8 4. 2.   Heter o ju nct i on  Fi gu re  3 s h ows  t h e e vol ut i o of  ene r gy   val e nce a n d  co n d u c t i on  ban d s .   0, 08 0, 1 6 0 , 2 4 0 , 3 2 0 , 4 0 0, 48 0, 56 0, 64 0, 72 0, 8 0 -2, 0 -1, 5 -1, 0 -0, 5 0, 0 0, 5 1, 0     Ener g i e ( V ) Mic r o n s   B a n d e de   v a l e nc e ( V )   B a nd e de c o nduc to ( V ) In Ga As In P In P Eme t t e u r Co lle ct eu r Bas e   Fi gu re 3.   Ene r gy   ba n d  di ag ra m   of  In /  In G a As do u b l e  het e ro j unct i o n bi p o l a t r a n si st o r       On ce th e t w materials are jo in ted to   fro m  h e teroj u n tion ,  th e en erg y  b a n d  d i ag ram  chan g e s. Th In GaA s  has a ban d g ap  of  on l y  (0,7 5e V [8] ) , i s  use d  fo r t h e base a n d  the wid e b a ndgap  m a ter ial o f  InP  (1,35 e V [8 ]) is u s ed  fo r th e emit ter an d  co ll ecto r  m a terial.  Th e th erm a l eq u ilib riu m  b a n d  d i ag ram  o f  th e In P-   In GaA s   –I nP i s  sh o w s i n  t h e   Fi gu re  3.   Obv i ou sly, t h e po ten tial sp ik e at E-B  jun c tion  can   b e  co m p letely eli m in ated   du e to th e em p l o y m en ts   of a  hea v y doped as  well as thin  n-InP em itter layer, even  at V EB   0V. Th e th in   n-In P emit ter layer  may h e l p   to  pro m o t e th e en erg y   b a n d   at emitter sid e  and  i n creas e th e effectiv e po ten tial b a rrier fo r ho les.  Thu s , the  tran sistor action s   with   h i gh  emit ter in j ecti o n efficiency and curre nt gai n  a r e expectable.    4.3. Conducti on  B a nds Diag ram  for Different Value of  V BE .   Fi gu re 4  s h ows   co nd uct i o n ba nds   di a g ram   fo r di ffe rent  val u o f  V BE 0,1 0 ,2 0 , 3 0 , 4 0,5 0 ,6 0,7 -0 , 8 -0 , 6 -0 , 4 -0 , 2 0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0     E n er gie( eV ) M i c r ons  V = 0, 0V  V = 0, 5V  V=1 V     Fi gu re 4.   C o nd uct i o n   ba n d s di agram   of I n P/ I n Ga As d o u b l e  h e tero jun c tio n b i po lar  tran sist o r   fo diffe re nt va lue o f   V BE      Sim u l a t i on o f   con d u ct i o n  ba nd  di ag ram  for  a In P/ I n Ga As  do u b l e s  h e tero jun c tio n b i p o lar tran sist o r   with   di f f ere n t   val u es of V BE.  The fi g u re  sho w s t h dec r ease co nd uct i on  ban d   bar r i e r at  t h e em i t t e r- base   junction,  when we i n crease  the value  of t h voltage  V EB .     4. 4.   Gummel Pl ot  The  Figure 5  sho w s  t h e c o l l ect or a n base  cu rre nt  o f   In P /  I n Ga As  d o ubl het e r o ju n c t i on  bi p o l a r   transistor,  bias ed in the  forwar d activ e m o de of  o p e ration   with   V C  =  V ,  as a  f u nct i o n  o f  t h e  ba se-e m i tt er  vol t a ge . T h i s  t y pe o f   pl ot  i s  a l so cal l e d a  G u m m e l  pl ot   Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
I J ECE   I S SN 208 8-8 7 0 8       Mo del l i ng el ec t r oni c c h aract e ri st i c  of  I n P/ I n Ga As  do u b l e  h e t e roj u nct i o n  b i pol a r  t r a n si st or   (B.  Yam i na 52 9 1, 0 1 ,5 2 , 0 2 , 5 -0 ,2 0, 0 0, 2 0, 4 0, 6 0, 8 1, 0 1, 2 1, 4     I c  , I b V( ba se )  Ib  Ic     Fi gu re 5.   G u m m e l  pl ot  o f   InP  /  I n Ga As  d o u b l e het e r o j u nct i o n  bi pol a r  t r a n si st or       This pl ot is ve ry use f ul in  de vice cha r acteri zati on  because  it reflects on  the quality of t h e em it ter- base j unct i o n whi l e   t h e   ba se- c ol l ect or bi as,  V BC , i s   kept  at   a co nst a nt .      n u m b e o f  o t h e r d e v i ce  p a rameters can   b e   g a rn ered  eit h er qu an titativ ely o r  qu alitativ ely  d i rectly fro m  th Gum m el  pl ot  [ 9 ] :    The c o m m on-e m i t t e r cu rre nt   gai n   β   a n the comm on-base current gain  α .   Base and  co llecto r  i d eality facto r ƞ .   Series resistances  an d lea k age curre nts.  Gum m el  pl ot  can  be  di vi de d  i n t o  t h ree  di st i n ct  regi ons:     0V< V BE  <3  V :   Th is  reg i on  correspo n d s  t o  the no rm al b i as co nd itio ns an d id eal, th e b a se an d co llector curren t   is do m i n a ted  by th e d i ffu s ion   cu rren (cu r rent o f  el ectron s  i n j ected   fro m  th e emitter in to  th b a se).  V BE  <1,2 V:  R ecom b ination c u rrents  are a dded to the  diffus i on c u rre nt.     V BE  >3:  The b a se and col l ect or cu rre nt s are  sl i ght l y  reduc ed beca use o f  t h e phe n o m e na at  hi gh d o ses  (Ki r effect).    4. 5.   Ic-Vce  Char acteristics   Fi gu re 6 sh o w s  a t y pi cal out p u t  of I n P/ I n G a As  d o u b l e   het e r o j unct i o n bi pol ar t r ansi st o r   characte r istic, whic h is t h e c o llector curre nt  Ic vers us  t h c o l l ect or- e m i t t e r vol t a ge   at  co nst a nt   base c u r r ent .   03 6 0,0 000 0 0,0 000 1 0,0 000 2 0,0 000 3     Ic (A /µm ) Vc ( V )  Ic 1  Ic 2  Ic 3  Ic 4  Ic 5     Figu re  6.  Ic -Vc e  cha r acteristics o f  I n P/ In Ga A s  d o u b le  h e teroj u n c tion  b i po lar  tran sistor      I- pl ot  ca be  di vi ded  i n t o  t h ree  di st i n ct  re g i ons:     -   R e gi o n  1( 0V< V BE  <   0, 2V ):   i s  t h n o n -  l i n ea r re gi o n   d u e t o   no n - ex p one nt i a l  beha vi o u r   of  di o d es  at  l o vol t a ge s (l ea ka ge c u r r ent s  am on gst   ot he fac t ors ) .   -   R e gi o n  2  ( 0 , 2 V< V BE  <  0,9V): is th e linear  reg i on   -   R e gi o n   3 ( 0 , 9 V< V BE  <  10V): th e curren t  is  li mite d by the   series re sistanc e         Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.
                        I S SN 2 088 -87 08  IJEC E V o l .  5, No . 3,  J u ne 2 0 1 5   :    52 5 – 5 3 0   53 0 5.   CO NCL USI O N   In t h i s  pa per ,  we st udi e d  I n P / In GaAs  do u b l e het e ro j unct i on bi p o l a t r an si st or  de vi ce. M odel i n g a n d   sim u l a t i on we re pe rf o r m e d by  usi n g  AT LAS - TC A D  si m u l a t o r.  Ou sim u l a t i ons p r ove  t h qual i t y  and   val i d i t y  of ou m odel  fo r m odel l i ng el ect r o n i c  charac teristic o f   th e In P/ InGaAs heteroj u n c tion  b i po l a transistor.       ACKNOWLE DGE M ENTS  We tha nk the   m e m b ers the Unity of Res earch “M ateri a ls and Rene wable E n ergie s ”, Faculty of  Scien ce,  Un iv ersity o f  Abo u -b ekr Belkai d,  Tle m cen, Al ge ria.       REFERE NC ES   [1]   D.V. Morgan,  Robin H.  Villiams, Ph y s ics and Technolog y of  Heterojunction Devi ces pu blished b y Pe t e peregrines Ltd,  London, United   Kingdom , 1991.  [2]   S.M. Sze, Ph y s ics of  Semiconductor Devices  (Second Edition), Wiley -Interscience , 1981, pp. 142.  [3]   Tom K. Johansen, Virgin ie No djiadj im, Jean- Y ves Dupu y ,  A gnieszka kon cz ykowska, Small-  and Larg e- Sign al  Modeling for Submicron InP/InGaAs DHBT’s,  DTU Electrical Engineering,  Electromagnetic Systems Group,  T echnica l Univ e r s ity of Denmark , 2012 [4]   Kwok-Leung Chan, High resolution thermal imaging for electri cal and op tical char acteri zatio n of electronic  and  photonic devices Univ ersity  of  M i chigan , 2007 [5]   Florence Brossard, Epitaxies Si/SiGe(C)  pour transistors bipolair e s avancés,   Université Joseph-Fourier-  Grenoble.  Fr ench , 2007.  [6]   M.R. Pinto, Con o r S. Raffe rty ,  and Robert W. Dutton, PISCES2 -  Poisson and Continuity   Equation Solver,  Stan ford  Electronics Lab o ratory Techni cal Report, Stanfo r d University , September 1984 [7]   S. Selberh e rr, A n aly s is and  Simulation  of Semiconductor Dev i ces,  Springer-Verlag, Wien-New   York , 1984 [8]   Subhra Chowdhur y ,  Sukla Basu , Effect of  dev i ce parameters on  current vo ltag e   characteristics and current g a in  of   InP/InGaAs HB Ts,   Electronics  and Communication Eng i neerin g Depar tment,  Kalyani Govern ment Engin eering  College Kalyani  , India    j ournal o f  Electron Devices,  Vol. 9 ,  2011 , pp. 362-366.  [9]   A. S.  Zoolfakar,   N. A.  Shahrol,  Mode lling of NPN Bipolar Junction Transistor  C h arac terist ics Using Gum m e l Pl ot   Techn i que , International Con f erence on  Intelligen Systems, Modelling and  Simulation ( I SMS) , 2010, p .  396-400 .       Evaluation Warning : The document was created with Spire.PDF for Python.